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《中国工程物理研究院科技年报》
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2006年1期
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连续扫描光刻技术
连续扫描光刻技术
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摘要
扫描光刻技术是目前实现大口径压缩光栅等位相元件制作的一种有效方案,该技术考虑到大尺寸加工的困难,采用先小尺寸加工,然后连续扫描扩大加工区域的方法,既能保证大尺寸加工和较高精度,又能降低设备制作成本和难度,具有明显的优越性。扫描光刻技术中需要发展超精密检测和超精密定位装置以保证移动光刻过程能够得到精密的控制,特别是10^-6级的相对精度的控制。图1显示了XY超精密平台的测量定位系统。
DOI
odwl210g4k/586680
作者
杨春林;周礼书;温圣林
机构地区
不详
出处
《中国工程物理研究院科技年报》
2006年1期
关键词
光刻技术
连续扫描
加工区域
制作成本
定位装置
精密检测
分类
[理学][物理]
出版日期
2006年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国工程物理研究院科技年报
2006年1期
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