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245 个结果
  • 简介:Geepilayersofdifferentthicknessesaregrownbymolecular-beamepitaxywithSbasasurfactantonSI(100)substrates,X-raydiffractionillustratesthattheseGethinfilmsarepartiallystrained.andthestrainsdecreasegraduallywithincreasingepilayerthickness,RamanspectrarevealadownwardshiftoftheGe-Gemodepeakastheepilayerthicknessincreases.Intheregionsofhighstrain,therelationshipbetweentheRamanshiftofthismodeandthestraininthepartiallyrelaxedsamplesisconsiderablydifferentfromthelinearrelationshipreportedbefore,whichismainlyattributedtothespatialconfinementeffectofphononsinananocrystal.

  • 标签: 镓外延薄膜 硅衬底 形变研究
  • 简介:低温下用MBE方法生长了Ge/Si超晶格。X射线近边吸收限精细结构研究表明,Ge与Si再Ge/Si界面处存在化学混合。X射线反射及横向散射研究表明,Ge亚层上下表面的粗糙度呈反对称,下表面大粗糙度来源于Ge向Si亚层中扩散形成SiGe混合组分结构:这种组分结构可以用平均成份SiGe合金层加以拟合,从而使得各亚层均有个合理粗糙度。旋转样品进行X射线散射研究表明,这种SiGe混合是各向同性,这与透射电子显微镜研究结构相致。

  • 标签: Ge/Si超晶格 界面结构 X射线 粗糙度 纳米结构 光电特性
  • 简介:利用同步辐射掠入射和常规X射线衍射,对Si(001)衬底上自组织生长Ge量子点组分和应变进行了研究。结果表明量子点为50%应变驰豫GeSi合金量子点,其Ge组分为0.55。此外在掠入射X射线衍射Si(220)峰高角旁观察到另外个峰,对应于量子点周围衬底中由成岛引起压应变。

  • 标签: Si(001)衬底 自组织生长 Ge 量子点 组分 应变
  • 简介:通过原位下高压同步辐射X光衍射技术,对具有钙钛矿结构La0.4Bi0.1Ca0.5MnO3中存在Jahn-Teller畸变,进行了研究。实验表明在压力作用下,样品中畸变有所减小,超于理想立方结构,并且在1.4GPa左右存在个过渡相。

  • 标签: La0.4Bi0.1Ca0.5MnO3 晶格畸变 JAHN-TELLER畸变 同步辐射 高压 X射线衍射
  • 简介:GaInP/GaAs/Getriple-junctionsolarcellswereirradiatedwith50keVand100keVprotonsatfluencesof5×1010cm-2,1×1011cm-2,1×1012cm-2,and1×1013cm-2.Theirperformancedegradationisanalyzedusingcurrent-voltagecharacteristicsandspectralresponsemeasurements,andthenthechangesinIsc,Voc,Pmaxandthespectralresponseofthecellsareobservedasfunctionsofprotonirradiationfluenceandenergy.Theresultsshowthatthespectralresponseofthetopcelldegradesmoresignificantlythanthatofthemiddlecell,and100keVproton-induceddegradationratesofIsc,VocandPmaxarelargercomparedwith50keVprotonirradiation.

  • 标签: 太阳能电池 质子辐照 GAINP 砷化镓 能量密度 光谱响应
  • 简介:用不同束斑SRXRF微不,对1个土壤成分分析标准物质和1个岩石成分分析标准物质进行了多点测量,通过样品缓慢移动,在2个土壤成分分析标准物质和2个岩名成分分析标准物质上分别选取2—3个高度为5mm小区,进行扫描测量。结果表明,不论SRXRF微束束斑大小,标准参考物均匀都不是很好;在目前没有微束分析用标准参考物情况下,采用多区域扫描测量方法,现有的标准参考物作质量控制是可行

  • 标签: 标淮参考物 均匀性 SRXRF 同步辐射x射线荧光微束 x-射线荧光分祈
  • 简介:用微米束同步辐射X射线荧光法(μ-SRXRF)对国际原子能机构(IAEA)研制可用于核技术微量分析两种固体微量生物标准参考物地衣IAEA-338和海藻IAEA-413样品中各种微量元素进行了检测,并对这种标准参考物均匀进行了检验。结果表明:这两种微量固体生物标准参考物均匀度达到了预定指标。

  • 标签: SRXRF 同步辐射X射线荧光法 微量生物标准参考物 均匀性检验 核技术 微量分析
  • 简介:用同步辐射角分辨紫外光电子谱对CO与Cs在Ru(1010)面上共吸附研究结果表明:由于Cs强烈影响,CO分子轨道重新排列。对应清洁表面上CO分子(5σ+1π)轨道7.5eV谱峰分裂成两个,分别处于6.3和7.8eV,6.3eV谱峰关于个垂直于Ru(1010)面面平行于<0001>晶向镜像面反对称

  • 标签: ARUPS Cs/Ru(1010) CO 分子轨道 对称性 一氧化碳
  • 简介:用同步辐射角分辨偏上光电子谱对K/Ru(101^-0)表面上吸附CO分子轨道对称测量发现:结合能在11.2eVCO-4α1(4σ)分子轨道对s偏振光(在沿<12^-10>入射面)是禁戒。结果表明由于K强烈影响,CO分子轨道重新排列(sp^2杂化)。根据选择定则和分子轨道对称说明,sp^2再杂化CO分子吸附桥位取向是<12^-10>晶向。

  • 标签: K/Ru(101^-0)表面 4α1轨道 对称性 CO 分子轨道 偏振光电子谱
  • 简介:对磁控溅射法在YBa2Cu3O7-δ缓冲层及SrTiO3(001)衬底上生长Pb(Zr0.52Ti0.48)O3薄膜材料,应用X射线散射倒空间作图法研究了薄膜在垂直(a⊥)和平行(a||)于表面方向晶格常数与其厚度关系。研究结果表明,随着PZT厚度增加,a⊥增加,而a||减小。这种晶格常数变化,不能用薄膜弹性畸变来解释,我们归结为晶体尺寸效应起了很大作用。X射线衍射测量结果表明,随着PZT厚度增加,其晶粒尺寸也增加。

  • 标签: PZT薄膜 晶格常数 厚度 铁电薄膜 X射线衍射
  • 简介:应用同步辐照光源进行高温高压原位能量色散X射线衍射实验,入射X射线光束定位是关键,北京同步辐射实验室高压衍射站引入四刀光阑扫描系统,实现调光定位自动化,简化调光手续,提高实验效率,为高压衍射实验站用户进行实验提供了方便。

  • 标签: X射线衍射 同步辐照 光束定位
  • 简介:利用溶胶法制备出不同粒度聚乙烯醇(PVA)包覆下硫化亚铁(FeS)纳米颗粒,探讨反应物浓度对产物影响。对FeS进行了物性表征,同时进行了高压衍射相变研究。

  • 标签: FeS纳米颗粒 制备 表征 溶胶法 聚乙烯醇 包覆
  • 简介:利用同步辐射X光衍射技术,对(La1-xBix)0.5Ca0.5MnO3(x=0.2,0.3,0.4)中存在Jahn-Teller畸变,进行了原位高压研究。实验表明在外加压力作用下,能有效地影响到晶格中Mn-O键长和Mn-O-Mn键角变化,样品中晶格畸变有所减小。并且对在晶格中存在两种不同畸变模式Q2和Q3,在外加压力作用下变化规律进行了讨论。由于这两种不同畸变模式在受到外力作用时,表现形为不样,导致了位于a-b基面上Q2畸变模式消失,并且导致Q2畸变模式消失压力点随掺杂浓度增加而增加。

  • 标签: 压力 掺Bi LaCaMnO 晶格畸变
  • 简介:实验观测到X射线反向曲线具有双晶特征。研究表明缺陷聚集在孪晶晶界。应力在晶界边缘处得到释放。应力释放导致享晶和其它缺陷形成。由于缺陷形成在缺陷附近产生无位错无应力或低位错小应力区。因此我们提出种孪晶模型来解释实验结果。应力(主要是热应力),化学配比偏离和杂质非均匀分布是液封直接(LEC)InP单晶生长过程中产生孪晶主要因素。研究了液封直拉(LEC)InP(111)面上孪晶。本文中讨论了上面提到孪晶模型实验证据和如何得到无孪晶液封直接(LEC)InP单晶。

  • 标签: INP 孪晶 晶界 同步辐射 磷化铟 面缺陷
  • 简介:软X射线监测系统建立,结构特点和性能,有效地解决了气体吸收和窗膜透过率等因素影响。申请获得了美国布鲁克海文国家实验室(BNL)用光时间,对监测系统性能进行研究,并给出了该系统精度及与国际标准比对结果。

  • 标签: 软X射线 软X射线监测系统 国际标准 电离室 光强度 测量