标淮参考物均匀性的SRXRF研究

用不同束斑的SRXRF微不，对1个土壤成分分析标准物质和1个岩石成分分析标准物质进行了多点测量，通过样品缓慢移动，在2个土壤成分分析标准物质和2个岩名成分分析标准物质上分别选取2—3个高度为5mm的小区，进行扫描测量。结果表明，不论SRXRF微束束斑大小，标准参考物的均匀性都不是很好；在目前没有微束分析用的标准参考物的情况下，采用多区域扫描测量的方法，现有的标准参考物作质量控制是可行的。

• 作者: 徐清;冯松林;张颖;冯向前;雷勇;范东宇;程琳;黄宇营;何伟
• 出处: 《北京同步辐射装置年报》 2001年1期
• 关键词: 标淮参考物 均匀性 SRXRF 同步辐射x射线荧光微束 x-射线荧光分祈
• 分类: [核科学技术][核技术及应用]