简介：建立了一种电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定钴白合金中锗含量的分析方法,确定了溶样方法和分析谱线,进行了基体元素的干扰等实验,对方法精密度和准确度进行了考察,结果表明,方法的检出限为0.043μg/mL,对钴白合金中锗的测定结果与其它标准分析方法分析结果基本一致,方法的相对标准偏差RSD在1.1%~1.9%（n=7）,样品的加标回收率在98.5%~102.1%。所建立的方法准确、快速,适用于钴白合金中锗的测定。
简介：利用高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级高纯氢氟酸中的痕量金属杂质，用膜去溶进样系统直接进样检测，无需前处理、快速，避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱法可以消除多分子离子干扰，降低检出限，提高定量准确性。方法的检出限为0．09-37．07μg／L，加标回收率为92．3％-116．8％。方法简单，结果可靠，适用于高纯氢氟酸中痕量元素的快速测定。
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