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  • 简介:O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平(兰州大学物理系.甘肃,兰州(730000)),奇莉,甘润今(北京机械工业学院基础部.北京(100085))//光学学报.—1998,18(9).—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

  • 标签: 喇曼散射光谱 纳米 复合膜 平均尺寸 射频共溅射 不同温度
  • 简介:参数问题是高考中的重点,具有较强的选拔功能,不少同学在解题时陷入困境,出现严重的失分现象.为此,笔者将含参数问题作一分类探究.

  • 标签: 高考 解题 分类
  • 简介:摘要本文应用矩量法和镜像法并结合静电比拟原理,得出均匀土壤中接地体的接地电阻数值计算方法,编制了计算程序,该程序可计算均匀土壤中复合接地网的接地电阻。用算例与有关文献比较,验证了本方法和程序的正确性。

  • 标签: 接地电阻 接地体电位 地表电位 矩量法 复合接地网
  • 简介:利用参数探索解题,是数学竞赛中一种很重要的解题策略,它往往从解题的经验与直觉出发,通过让参数参与运算来达到解题的目的,解题时思维自然、流畅。具体如:求和时利用参数可探寻裂项相消的途径,在数列中利用参数可构造新的递推关系,在不等式证明和求函数最值中利用参数去寻找、匹配取等条件是常用手法,本文拟从上述几个方面举例介绍这种重要的方法。

  • 标签: 解题策略 利用 不等式证明 递推关系 函数最值 数学
  • 简介:拜读贵刊2006年第8期中的《双参数法与弦中点轨迹》一文,深感其妙.这种方法简化了很多运算,降低了出错率.但是弦中点一类的题目毕竟很少,能不能推广一下,即该方法能不能用于不是弦中点的问题呢?

  • 标签: 参数法 法推广
  • 简介:近几年高考试题都十分重视对学生运用数学思想方法解决实际问题的考查,特别是在试题中引入参数,既增加了试题的广度和深度,更便于考查参数思想与分类讨论、函数与方程、数形结合、转化与化归等数学思想的综合运用.另外,有些问题如轨迹、变量范围等常见问题的解决,用参数法往往十分方便.下面,就高考中参数问题的命题特点及高考复习谈一些看法.

  • 标签: 考查 参数问题 试题 分类讨论 数学思想方法 高考复习
  • 简介:O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

  • 标签: 反射率 透射率 多层膜 周期厚度 线性变化 非相干
  • 简介:O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟(东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京(210096))//东南大学学报.—1999,29(5).—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

  • 标签: 光学常数 非线性回归模型 薄膜厚度 光学薄膜 生物分子电子学 厚度测量
  • 简介:导数是初等数学与高等数学的重要衔接点,是高考的热点,高考对导数的考查定位于作为解决初等数学问题的工具出现.对于一些有关切线、单调性逆向题中,求参数参数范围,这时可借助于导数工具“导”出参数

  • 标签: 导数 巧用 高等数学 初等数学 数学问题 参数范围
  • 简介:当你买车看汽车样本时,这些汽车的术语及参数含义你知道吗?1.整车装备质量(kg):汽车完全装置好的质量,包括润滑油、燃料、随车工具、备胎等所有装置的质量;

  • 标签: 汽车 零部件 润滑油 燃料
  • 简介:O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

  • 标签: 光学薄膜 国家重点实验室 极化聚合物薄膜 半导体 山东大学 光电系数
  • 简介:随着高频通信技术的不断发展,高频特种印制电路板的需求越来越多。聚四氟乙烯(PTFE)材料以其良好的耐高温耐老化以及低损耗而著称,是目前用量最大的高频特种印制板类型。但由于PTFE材料独特的物理化学性能,导致其机械加工难度大。在钻孔过程中,如果钻孔参数设置不当,极易出现孔壁粗糙、铜瘤等不良问题。本文选用业内常用的PTFE+玻璃布和PTFE+玻璃布+陶瓷填充两种类型的材料,通过正交试验方法,对其钻孔参数进行分别进行分析和研究,从而得出最优的参数组合,有效解决了PTFE材料在钻孔过程中产生的孔壁粗糙、铜瘤等不良问题,为业内同行加工PTFE材料提供参考。

  • 标签: 聚四氟乙烯 钻孔 孔壁粗糙 铜瘤
  • 简介:摘 要: 本文将 IPR 曲线理论应用于水平井开采的动态分析中,通过实际生产数据进行分析得到的结果可靠,说明应用 IPR曲线理论能有效评价预测油井产能和确定油井允许的最小流压界限及合理生产制度,为充分发挥油井生产能力、合理高效开发提供了理论依据。

  • 标签: IPR 曲线 庄 **区 合理生产参数
  • 简介:岩土参数的取值对滑坡稳定与处治方案关系重大,结合南宁至友谊关公路K151+420~+680段滑坡的工程实践,对滑坡岩土参数的取值进行分析与探讨。

  • 标签: 滑坡 岩土参数 取值
  • 简介:记凭证输入时,尽管账务系统提供了多种控制错误的措施,但错误凭证是难免的.记账凭证的错误必然会影响系统的核算结果,为更正错误,系统提供了对错误凭证修改的功能,其中之一就是总账凭证参数"允许修改、作1他人填制的凭证".在这里,我想就这个选项所应该具有的必要限制谈谈自己的看法.

  • 标签: 用友软件 总账 账务系统 记账凭证 凭证输入 更正错误
  • 简介:摘要:为了解新田岭矿山岩石与围岩的力学性质,本文对新田岭矿山具有代表性的矿岩进行了现场取样与标准试件制备,通过对矿体以及围岩进行室内单轴抗压、单轴抗拉以及剪切试验,以得到各项力学参数,为后续研究中岩体质量分级以及采空区稳定性研究提供参考依据。

  • 标签: 矿岩 力学 参数