简介：本文介绍了在各种结构参数下光子晶体光纤的色散特性，总结了实现光子晶体色散补偿光纤和光子晶体色散平坦光纤的各种设计方法。利用光子晶体光纤结构设计的灵活性，可以设计出具有各种色散曲线的光子晶体光纤，而这些光纤大略可以分成两类：空气孔直径大小一致的普通光子晶体光纤和空气孔直径大小变化的光子晶体光纤。从数值仿真的结果来看，如果选择适当的空气孔分布结构，空气孔直径大小变化的光子晶体光纤可以具有非常优异的色散补偿和色散平坦特性。这些数值仿真为实际的光子晶体的制作提供了参考。

简介：摘要本文主要介绍了AxiosmaxPW4400型波长色散型X荧光光谱仪的使用要点，日常检查项目，日常维护项目及常见的故障处理。

简介：摘要：计数线性是波长色散X射线荧光光谱仪的一项重要计量性能指标。本文依据JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定规程给定的检定方法，对波长色散X射线荧光光谱仪计数率偏差进行了不确定度评定。

简介：文中利用FDTD方法模拟了光波在双芯光子晶体光纤中的色散特性。给出了FDTD方法的理论基础和仿真结果，同时分析了色散特性与占空比的关系，在相同的空气孔间距条件下，占空比越大，反常色散峰值越大，峰值色散点往短波区域移动。

简介：我们知道当白光通过三棱镜时要发生两次折射，使各种色光分开，从而形成彩色光带，如图1所示，这就是光的色散现象。平时我们常见的多为平面镜，在老师指导下，我们用平面镜成功地做了光的色散实验。

简介：摘要：本论文针对铝土矿检测方法的研究与应用现状，提出了一种波长色散X射线荧光光谱法（WD-XRF）在铝土矿检测中的应用策略。通过论述WD-XRF的基本原理、优势以及仪器参数优化与谱图解析，为铝土矿检测提供了高效、快速、无损的分析手段。

简介：首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。

简介：通过不同波长的光源照射葡萄糖水溶液,观察到旋光现象,并测出了不同波长所对应的旋光度,从而计算出它们的旋光率.通过分析测量数据得,在一定温度下葡萄糖溶液旋光率与波长具有对应的函数关系,证实了旋光率与照射光源波长倒数的平方成正比.

简介：

简介：在各种平面图形中，最基本的图形就是点和线．线中最简单的图形就是直线、射线和线段．本章着重考察直线、射线和线段．通过实践让我们知道两个重要性质：（1）两点确定一条直线；（2）两点之间线段最短．

简介：同学们，各种形形色色的图形中最基本的图形是什么呢?那就是点，大家经常见到的圆点、亮点、星星等等都给我们以点的具体形象，点仅仅代表一个位置的记号，而无大小可言，就好像地图上那些代表城市的点，只起着城市位置的作用，而并不代表城市的大小一样，

简介：1．如图的直线表示法（）

简介：摘要：利用 KTP-OPO系统可以产生人眼安全波长的 1.57 μm波长激光，其具有阈值低、转换效率高、重复频率高、脉冲能量大、结构简单及成本低等优良特点。在军用指示、测距机、激光雷达及遥感等领域具有极大的应用前景，该技术日趋成熟，有望取代 Nd： YAG产生的 1.064μm激光。本文从 KTP-OPO系统应用出发，重点分析了 KTP晶体端面镀膜的膜系设计及相关工艺研究，尤其对提高抗激光损伤阈值进行了重点试验。

简介：

简介：激光器是DNA测序仪中的重要部件,寻求合适波长的激光器可有效提高DNA测序仪性能。分析了DNA检测所用的四种荧光染料FAM、JOE、TAMRA和ROX的激发谱和发射谱,设计实验技术方案利用488nm、505nm和515nm三种不同波长的激光器分别对其进行激发。在相同的积分时间和相同的功率下,488nm激光器对于荧光染料ROX的激发强度太低,515nm激光器对于荧光染料FAM的激发强度太低,而505nm激光器对于四种荧光染料的激发强度均比较强。实验结果表明在三种不同波长中,505nm激光器对四种荧光染料的激发效果最佳,可以替代目前大多数DNA测序仪中的氩离子激光器。

简介：在公路桥涵施工测量工作中，用导线控制点放样桥涵平面位置以其精确、方便、灵活、高效和误差不积累等优越性得到了最广泛的应用。主要有极坐标法、直角坐标法、角度交会法和距离交会法等。

简介：本文采用玻璃融片、波长色散X-荧光光谱法[1,2,4]测定铁矿石中镍、铬含量，使用经ICP法准确定值、涵盖被测矿种的试样绘制工作曲线，采用经验系数法用三元线性回归的方法求出“强度-含量”公式及各次系数，对基体进行校正，计算试样中待测组分含量。方法简便易行，准确度、精密度满足分析要求。镍、铬分别为0．066％、0．069％时RSD为1．22％、1．15％（n=7）。

简介：

简介：立体几体中，在求点到平面距离以及线面角、面面角时，往往要由平面外一点向平面作垂线，如何确定垂足的位置，常使同学们感到困难．找不到垂足，解题过程便无法继续．那么，怎样才能解决好这一问题呢?

简介：介绍了SC谱的产生机理,并通过数值计算具体分析和比较了各种光纤中高阶群速度色散(GVD)对SC谱产生的影响.结果表明:二阶GVD为正的光纤中,三阶GVD不利于平坦SC谱的形成;在色散位移光纤(DSF)的反常色散区,三阶GVD(TOD)是平坦SC谱形成的决定因素;四、五阶GVD则对反常色散平坦光纤(DFF)和色散平坦渐减光纤(DFDF)中平坦、宽带SC谱的形成起着决定性的作用.