简介：通常情况下,利用李萨如图形可进行两同频信号的相位差测量,但无法同时直接利用李萨如图形进行两信号超前或滞后的判断。本文给出了利用“调辉法”从李萨如图形的扫描方向来判断两信号之间的相位超前和滞后。当改变示波管中阴极和控制栅极之间的负偏压时,就会改变电子束的强弱,而电子束的强弱,又会改变荧光屏上光点的亮度,这就是通常的“辉度”调节,若在阴极和控制栅极之间加上

简介：本文讨论了用状态驻留时间来模型化传统的HMM模型。HMM的一个基本假设是它认为语音信号是准平稳的。然而由状态输出yt的HMM模型，并不能很好地表征语音信号中平稳段或平稳段之间的具体特征；由转移弧产生输出的自左向右HMM系统,则对语音特征作更为细致的描述。本文主要讨论在[2]的基础上,对新建模型进行参数估计。

简介：TN2472004010183飞秒激光脉冲的谐波频率分辨光学开关法测量研究=MeasurementoffemtosecondlaserpulsesusingSHGfrequency-resolvedopticalgatingtechnique[刊,中]/王兆华(中科院物理所光物理开放实验室.北京(100080)),魏志义…∥物理学报.—2003,52(2).—362-366建立了一台谐波频率分辨光学开关法(FROG)飞秒

简介：TN2472002020999新型大功率光光束光斑质量测试仪的软件开发=Soft-waredevelpmentofanewtypehigh-powerlaserbeamqualityanalyzer[刊,中]/雷訇,李强,左铁钏(北京工业大学激光工程研究所.北京(100022))∥北京工业大学学报.—2001,27(2).—197-201采用VisualC++、VisualBasic和汇编等多种计算

简介：在用静态拉伸法测量金属丝杨氏弹性模量实验中,可以明显观察到弹性滞后现象.本文通过测量数据和弹性特性曲线直观展示了金属丝在静态拉伸时的弹性滞后现象,估算了滞后的大小.

简介：本文推广了文献[1]的方法，给出了定数截尾情况下两参数Weibull分布的形状参数的区间估计，并通过大量的Monte—Carlo模拟考察了优选问题。另外还讨论了两参数的联合区间估计。文章最后通过实例说明了本文方法的应用。

简介：TN2522002042748有效折射率法的研究=Studyofeffectiveindexmethod[刊,中]/孙飞,刘润民,李国正(西安交通大学电子工程系.陕西,西安(710049))∥半导体光电.—2001,22(1).—34-37分析了有效折射率法及其计算偏差的产生原因,

简介：TN2522002010399测量NLO聚合物薄膜光波导传输损耗的方法=Meth-odsformeasuringtransmissionlossofNLOpoly-merthinfilms【刊,中]/吕增海,任诠,马常宝(山东大学光学系晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100))∥光电子·激光.—2001,12(1).—101-104

简介：TN2495063683超短脉冲激光的脉宽测量=Measurementoftheultrashortlaserpulsewidth[刊,中]/文国庆,张树葵,周丕璋,陈骥,邬玉婷(西南核物理与化学研究

简介：TN2596042537Brillouin光纤应变传感中的参数理论计算=TheoreticalcalculationoftheparametersinBrillouinfibrestrainsensing[刊,中]/黄民双,陈伟民,黄尚廉(重庆大学光电技术及系统开放实验室.四川,重庆(630044)),王新强(重庆大学物理系.四川,重庆)∥光通信技术.—1996,20(1).—39—44,53

简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

简介：本文给定一截尾样本，在熵损失函数下，研究了两参数指数威布尔分布尺度参数在先验伽玛分布下的Bayes估计，并给出了该参数的Bayes区间估计。

简介：建立了CT系统模板参数标定的数学模型.然后利用标定的参数,对接收数据进行了图像重构.最后对2017年＂高教社杯＂全国大学生数学建模竞赛A题的论文予以评述.

简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB8896042600底片缺陷分析及鉴别仪器=Analysisofphotographicfilmdefectsanditsdiscriminators[刊,中]/周宏(国家照相机质量监督检验中心)∥照相机.—1995,(10).—23—25对各种一般的及特殊的情况提出底片的缺陷,并简要分析底片缺陷产生的原因,用表格形式将各种缺陷归类,并确定它属于何种类型的缺陷,以便查阅。由于肉眼直接观察来分析底片缺陷已不能满足摄影及