简介：CMOS制程是现今集成电路产品所采用的主流制程。闩锁效应（Latch—up）是指CMOS器件中寄生硅控整流器（SCR）被触发导通后，所引发的正反馈过电流现象。过电流的持续增加将使集成电路产品烧毁.闩锁效应已成为cMOS集成电路在实际应用中主要失效的原因之一。在国际上，EI～JEDEC协会在1997年也制订出了半静态的闩锁效应测量标准，但只作为草案，并没有正式作为标准公布，我们国家在这方面还没有一个统一的测量标准，大家都是在JEDEC标；住的指导下进行测量。文章针对目前国际上通行的闩锁效应测试方法作一个简要的介绍和研究。

简介：为了更好地满足生产质量要求，严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上，文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高，功能更加强大，测试向量越来越大，测试时间也越来越长。为了降低测试成本，TeradyneJ750测试系统以测试速度快的特点，顺应测试行业的发展，在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例，对于一些数字电路关键测试技术在TeradyneJ750测试机上的调试做出了较详细的阐述。

简介：雷达机内测试（BIT）技术是改善雷达测试性、维修性和故障诊断能力的重要途径，其重要性已经引起了雷达系统设计者和用户的高度重视。在脉冲雷达系统中，通常BIT测试方法不能对脉冲雷达的工作性能作出准确的测试。利用真实目标回波进行在线（BIT）性能测试的方法，扩展了BIT测试范围，对真实雷达回波信号进行测试，判断雷达当前的性能状态。根据对雷达系统的分析和测试需求，提出一种数字闭环BIT方法，把系统原有的BIT故障检测功能延伸到系统性能测试。给出了系统的设计方法和测试流程，测试系统结构简单，易于实现。

简介：随着经济发展和科学技术的进步,集成电路（IntegratedCircuit）产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。

简介：高压脉冲电路是高可靠遥测系统中的重要组成部分。文中介绍了一种具有逻辑检测功能的高压脉冲电路的工作原理和设计方法，重点介绍了高压电路、反激变压器、逻辑检测电路以及产品的抗干扰设计和工艺实现方法。

简介：实现TWSR（穿墙探测雷达）技术的关键之一是如何设计并产生可以控制的UWB窄脉冲。为此，文中介绍了TWSR的基本概念及工作原理，讨论了几种UWB中常用的窄脉冲产生方法和特点；给出了一种基于RF-BJT雪崩特性的UWB窄脉冲产生电路，同时进行了仿真调试。通过该电路可获得峰值电压为-10．1V、宽度为654．8ps的单极性UWB窄脉冲。

简介：电路的日益复杂和集成度的不断提高，使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成，并提出了改进其周期的办法，从而大大提高了故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真，验证了其正确性。

简介：BIT技术是当今最重要的在线故障诊断技术之一,已经被广泛应用于航空电子设备中,在航空领域以外的应用虽然还比较少,但也已经起步。随着电子设备维修性要求的提高以及设备本身要求具备检测隔离故障的能力以缩短维修时间,BIT在测试领域研究中将越来越重要。功能电路BIT系统是电子设备整机BIT系统的重要组成部分,因此从解决实际问题出发,对几种典型的功能电路进行BIT策略方案设计,并使用Multisim软件对所设计的BIT监测电路进行仿真,仿真结果表明,所设计的BIT电路是可靠及有效的。

简介：文章主要阐述了I^2C总线控制音响电路的工作原理，探讨I^2C总线控制音响电路的测试方法，介绍了在A370测试系统上使用高速数字模块（M621）对I^2C总线控制的编码方法以及配合M625和M601模拟模块对输出音频信号进行测试的软件开发。

简介：

简介：温度检测是芯片和系统中经常需要的功能,温度检测电路的应用非常广泛。文章详细分析了与温度成正比（PTAT）电压的产生原理,并以此原理为基础设计了一种基于双极工艺的温度检测电路,电路的设计输出电压与温度成正比。通过使用CadenceSpectre仿真工具对电路的功能进行仿真,结果表明该电路在-40℃~120℃内能正常工作,输出的检测电压与温度呈比较精确的正比关系,偏差仅为0.01V。

简介：欧盟RoHS指令的颁布实施使印刷电路板步入了无铅时代,这对电路板的耐热性能提出了更高的要求。热分析技术是一种分析测试材料的性质与温度关系的技术。本文介绍了热分析技术——差示扫描量热法(DSC)和热机械分析法(TMA)在印刷电路板性能测试中的应用,并比较了它们各自的特点和主要影响因素。

简介：论文主要介绍一种用于DC／DC电源芯片内部LDO电路，电路采用双极工艺设计，主要为芯片内部提供稳定电压，同时也可以向外部输出。首先论述了线性稳压电源的基本原理，以此为基础对系统设计进行整体考虑，构建了系统整体架构，并制定了电路的设计指标。然后，利用小信号分析的方法对系统稳定性进行了分析讨论，根据系统稳定性原理，采用电容反馈补偿措施以确保系统稳定可靠。最后，借助CadenceSpectre仿真软件完成仿真验证。实验结果表明，该系统在正常工作时，能得到9V和6V两种稳定的输出电压。

简介：旧金山电路总裁AlexDanovich近日介绍了他的无边界电路板——一项新的增值印制电路板服务。旧金山电路现在能够提供其客户任何电路板的解决方案，从而得名无边界电路板。旧金山电路现在在提供给客户的PCB技术和服务上不受限制，无论客户需要单还是双面的FR4电路板，或者该技术盲孔和埋孔电路板，还是刚柔性电路板，他们都可以通过联系旧金山电路获得。

简介：<正>00576ACompactTransceiverforWideBandwidthandHighPowerK-,Ka-,andV-BandApplications/D.Yamauchi,R.Quon.Y-HChungetal(NorthropGrummanSpaceTechnology)//2003IEEEMTT-sDigest.—2015用当今先进的InPMMICs和先进的封装技术演示了一种宽带宽(13%～54%)高功率(>500mW)K、Ka及V波段小型收发机。该组件有30多块MMIC和200多个元器

简介：介绍了一种基于IGBT串联技术的频率可调的高压陡前沿脉冲发生装置。并针对串级型结构的固体开关式脉冲发生器存在的可靠性受同步驱动、均压等技术条件影响严重的问题，提出了利用光纤连接器提高驱动信号同步性等解决方案。利用OrCAD＼PSpice软件对电路的仿真和与实际测试波形的对比结果证明，该装置工作可靠，输出脉冲电压峰峰值为±5kV，频率为1kHz～10kHz可调，脉冲前沿到达200ns以内。

简介：在集成电路设计中，可将承担静电放电保护、电平转换、电路驱动等功能的电路组合成接口电路，通过对接口电路的可靠性设计来提高集成电路的可靠性。从电路设计、版图设计、封装设计等设计阶段的特点出发，阐述了各阶段可靠性设计的内容，并总结了一些设计要点和设计准则，提出了可采用接口电路、封装、PCB三者协同设计的方法，以提高接口电路的可靠性。

简介：在高速光通信系统中,接收端收到的光信号脉冲强度随通信距离、光纤损耗等因素变化,因此需要检测平均光电流,以确定接收端光功率,对应调整放大器增益,实现不同通信距离情况下光信号的高速接收,避免放大器饱和或者增益不足的情况。提出一种光接收电路中平均光电流检测电路的设计。通过运放钳位光电二极管阴极和采样电路,实现对平均光电流的采样与输出。为克服随机失调对采样精度带来的影响,在运放设计中采用了OOS[1](输出失调存储,OutputOffsetStorage)技术,通过采保电路存储输出失调电压,并对应产生失调电流补偿输出失调电流,实现了失调电压的消除,保证了电流采样精度。所提出的平均光电流检测电路采用0.18μmCMOS工艺进行设计。测试结果表明,在1.25Gbps的通信速率下,实现了7.5%的平均光电流采样精度。

简介：本刊特约中芯国际张汝京总裁等为本刊撰写了系列文章,介绍中芯国际目前已具备的工艺手段和所达到的技术水准。其它公司的情况,本刊将陆续发表,以飨读者。1.数模混合电路(MS-MixedSignal)和射频电路(RF-RadioFrequency)中的主动元件和被动元件。数模混合电路和射频电路中的CMOS电路必须与logic电路相兼容。其主动元件或称有源元件(ActiveDevices)主

简介：随着软件产品在社会生活中的广泛应用,软件产品的可靠性和用户的需求也在逐步提高。软件测试一般分为白盒测试和黑盒测试两种,而路径测试方法是白盒测试中最常用的方法。主要介绍了DD路-径和基本路径两种路径测试方法,并针对它们的测试用例的不同设计方法,分析了软件测试中的结构化测试方法在测试用例生成中的作用。