首页
期刊导航
期刊检索
论文检索
新闻中心
期刊
期刊
论文
首页
>
《电子与封装》
>
2015年9期
>
集成电路FT制程高压测试方法研究
集成电路FT制程高压测试方法研究
打印
分享
在线阅读
下载PDF
导出详情
摘要
随着经济发展和科学技术的进步,集成电路(IntegratedCircuit)产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。
DOI
54k6xqy3jk/1547457
作者
姚锐;周淳;张亚军;倪晓丽
机构地区
不详
出处
《电子与封装》
2015年9期
关键词
集成电路
高压测试
电源管理
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2015年09月19日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
相关文献
1
陈瑞,刘宗猛,徐波.
对集成电路测试方法研究
.,2023-10.
2
向璐.
集成电路制造中制程能力的提升
.物理电子学,2014-03.
3
陆坚;王瑜.
集成电路闩锁效应测试
.物理电子学,2007-12.
4
于淑华;李凌霞;邵晶波.
三维集成电路测试方法
.计算机科学与技术,2015-11.
5
蒋焕.
集成电路测试生成算法研究
.文化科学,2024-04.
6
陈国灿.
集成电路测试行业综述
.政治经济学,2023-07.
7
王东旭胡靖.
集成电路测试数据压缩研究
.文化科学,2019-08.
8
王坤.
集成电路芯片的成品测试方案研究
.,2023-10.
9
朱智丹.
TTL与非门集成电路的测试
.国民经济,2002-06.
10
郑益民.
芯片集成电路电磁兼容测试技术
.,2022-07.
来源期刊
电子与封装
2015年9期
相关推荐
集成电路芯片的射频测试技术
集成电路芯片的射频测试技术
浅论集成电路测试技术的应用
数字集成电路测试技术应用
突破集成电路测试设备关键技术
同分类资源
更多
[物理电子学]
数据链信息服务系统关键数据管控技术
[物理电子学]
黑客——攻击手段大揭秘
[物理电子学]
A novel polarization splitter based on octagonal dualcore photonic crystal fiber
[物理电子学]
新举措让IBM天翻地覆 新掌门欲重创蓝色巨人辉煌
[物理电子学]
SRV constraint based FIB design for wideband linear array
相关关键词
集成电路
高压测试
电源管理
返回顶部