首页
期刊导航
期刊检索
论文检索
新闻中心
期刊
期刊
论文
首页
>
《中国光学》
>
2004年4期
>
光放大、控制与器件
光放大、控制与器件
(整期优先)网络出版时间:2004-04-14
作者:
理学
>物理
分享
打印
同系列资源
资料简介
运用四极质谱计对微光成像器件的制管工艺质量进行大量质谱分析监测,分清了各道工序污染对制管的影响。通过对制管工艺进行改进,使制管成品率提高了50%。
/
1
运用四极质谱计对微光成像器件的制管工艺质量进行大量质谱分析监测,分清了各道工序污染对制管的影响。通过对制管工艺进行改进,使制管成品率提高了50%。
同系列内容
《中国光学》2004年4期 - 光学导航、制导设备
2004-04-14
3122
《中国光学》2004年4期 - 眼镜、放大镜、显微镜、望远镜
2004-04-14
1942
《中国光学》2004年4期 - 微细加工技术与设备
2004-04-14
4447
《中国光学》2004年4期 - 光学加工工艺与设备
2004-04-14
3022
《中国光学》2004年4期 - 光电功能材料
2004-04-14
4426
查看全部
来源期刊
中国光学
2004年4期
相关推荐
光放大、控制与器件
光放大、控制与器件
光放大、控制及器件
光放大、控制及器件
光放大、控制及器件
同分类资源
更多
[物理]
光电效应中的4/3因子
[物理]
EXAFS study of Mo2N and Mo nitrides supported on zeolites
[物理]
Go4:Multithreaded Inter—Task Communication with ROOT—writing non—blocking GUIs
[物理]
高速铣削过程铣削力建模及析因试验分析
[物理]
深海矿产资源管道输送阻力的研究
相关关键词
半导体光放大器
四极质谱计
成像器件
波长转换
工艺质量
分析监测
光放大、控制与器件
/
1
重新阅读
+在线打印
返回顶部