蔗秆表皮层的SEM—EDAX研究

用SEM-EDAX法研究蔗秆表皮层的超微结构及元素组成.结果表明,在实验条件下,蔗秆表皮层的外表面由C、O、Mg、Al、Si、Cl6种元素组成,Si的含量为30.464%;颗粒状物的Si含量为53.833%.蔗秆表皮层径切面中含C、O、Mg、Al、Si、K、Ca7种元素,自外向里各种元素的含量呈规律性变化.表皮层是Si等矿质元素高度密集、超微结构非常复杂的多层结构;表皮层中的Si绝大部分在碱法制浆的低温蒸煮阶段就被溶解转移到黑液中,残留物几乎为纯C组成.蔗秆表皮层的超微结构、Si等元素的存在状态及脱除机理有待进一步研究.