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《中国光学》
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光放大、控制与器件
光放大、控制与器件
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摘要
运用四极质谱计对微光成像器件的制管工艺质量进行大量质谱分析监测,分清了各道工序污染对制管的影响。通过对制管工艺进行改进,使制管成品率提高了50%。
DOI
g4qxxrmnj8/700948
作者
机构地区
不详
出处
《中国光学》
2004年4期
关键词
半导体光放大器
四极质谱计
成像器件
波长转换
工艺质量
分析监测
分类
[理学][物理]
出版日期
2004年04月14日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国光学
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