简介:摘要:随着我国国民经济的迅速发展,对有色金属的需求急剧上升,有色金属资源短缺的局面日益严峻。为了缓解其供不应求的状况,需要大量增加人力来对有色金属进行开采、化验及加工等。随着员工和业务量的不断增加,业务流程和行政管理的压力也随之增大,内耗问题越来越突出。为了提高有色金属的开采效率并高效地管理其化验检测信息,实现无纸化办公的需求,有必要设计并开发一套有色金属化验室管理系统。基于SSM的有色金属化验室管理系统能够对化验室里的化验项目、化验元素、化验结果、物资情况及化验设备等进行规范化管理,可以有效地提升有色金属化验室信息系统的管理水平,继而提供了一种安全可靠的化验信息数据管理平台,同时也可以进行相关信息的打印,可以很好地满足公司的需求。
简介:利用Bi作为助熔剂制备出了层状过渡金属化合物CaMn2Bi2单晶样品,通过X射线衍射、能谱分析系统、综合物性测量系统等测试设备对该单晶样品的晶体结构、化学成分、电学和磁学性质进行了测量和表征.结果表明:CaMn2Bi2是一个层状过渡金属化合物,具有三角晶系CaAl2Si2型的晶体结构,Mn^2+排列成三角格子层.磁化率在150K表现出反铁磁行为,但是在反铁磁转变温度以上磁化率不满足Curie-Weiss行为表现出鼓包行为,说明在反铁磁转变温度以上系统中存在着很强的反铁磁关联.电阻率从300K开始随温度降低而降低,表现出金属线性行为;在150K附近随温度降低而急剧地降低,这与发生反铁磁转变是相关的;直到70K附近电阻率降到最低,随后在低温下随温度降低而升高,表现出半导体行为.
简介:在半导体制造工业中,参数测试作为有效的对在线制品的监控手段,一方面反映了工艺线的工艺水平状况,另一方面它也是制造公司与设计公司之间进行沟通的主要依据。而对于新工艺研发来说,参数测量及分析更是整个研发过程中极其重要的一部分,及时准确的参数测量结果是产品工程师快速作出工艺研发方向的判断依据。因此,芯片参数测量分析的主要作用在于:在工业生产中得到大量的测量数据,用于评价工艺设备、半导体材料和电路结构,监视和控制工艺和器件参数的均匀性、重复性、协调性,分析工艺中存在的缺陷,诊断电路性能失常规律,预测成品率,预报可靠性信息等等。文章主要介绍了运用参数测试对在线工艺异常进行可靠性评估的方法。