简介：薄膜试片测试法是一种能够全面有效地对博物馆藏展材料进行评估筛选的测试方法,对其腐蚀现象进行图象采集及进行数据化分析能够得到更为客观准确的测试结果。本工作对应该测试法设计了专门图像采集的硬件装置,采用密闭光源和彩色工业摄像机,可以得到清晰的试片图像。软件系统将采集图像、打开原始图像、图像分割处理、材料分级评价等功能模块化,并根据具体功能设计实现了基本应用的可视化界面。实验表明,该系统能够快速、准确地对藏展材料对试片的腐蚀现象进行数据化分析,使藏展材料的评估分级由人工目测走向计算机视觉计算,具有快速、客观、误差小等特点。

简介：在FSA的实施过程中，专家决策工作贯穿了FSA的每一个阶段和步骤。本文对FSA专家组的组成，如何更好地开展专家咨询工作，如何对专家的决策进行评估，如何加强该工作的透明度进行了研究。

简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

简介：O484.598063898测量金属膜粗糙度的表面等离子激元光谱方法=Surfaceplasmonspectroscopyformeasuringthesurfaceroughnessofmetallicfilms[刊,中]/邓里文,王恭明(复旦大学物理系三束材料改性国家重点实验室.上海(200433))//光学学报.—1998,18

简介：O484.596042597不同表压下芪盐单层LB膜二次谐波的研究=Studyofsecond-harmonicgeneration(SHG)forstilbaziumsaltLangmuir-Blodgettmonolayerfilmatthedifferentsurfacepressure[刊,中]/李加,侯延冰,张光寅,张春平,田建国(南开大学

简介：摘要船舶引航过程容易多发事故，本文采用FSA方法对船舶引航系统进行全面的风险评估，结合江苏海事局对管辖区水上交通事故的调查进行深入研究，建立引航系统指标评价模型。通过对研究结果分析，对FSA在船舶引航安全中提出相关意见及建议。

简介：采用脉冲激光沉积方法，以烧结的Fe3O4为靶材，在STO（100）基底上制备了Fe3O4（100）薄膜。XRD和AFM显示薄膜为纯相外延单晶薄膜、表面较平整。对薄膜的磁电阻进行测量，薄膜为负磁电阻，且在Verwey转变温度（约120K）时磁电阻最大。霍尔效应测量得到薄膜中栽流子浓度随着温度的降低而减小，In（n）与I／T基本呈线性关系，符合半导体热激活模型，迁移率随着温度的降低而减小，说明在薄膜内存在大量电离杂质中心。薄膜磁滞回线中较高的饱和磁化场。说明薄膜中APBs密度较低。

简介：提出一种运用振动样品磁强计来确定磁性薄膜难磁化方向的快捷有效测试方法。通过先确定样品难磁化方向的大致方向、大致位置、准确位置等三步进行实施。在测试中由于减少了每次转动角度都要施加外磁场饱和再降为零,读取剩余磁化强度的过程,从而大减少了测试时间,快速有效的找到了难磁化方向。

简介：1前言对任何一个生产技术领域,从科研开发、成品生产到市场销售,都离不开测试系统,测试系统得出的测试数据,可为科研开发提供指导性信息、诊断生产过程是否处于受控状态、确认产品质量是否符合技术规范的要求;虽然,测量的数据并不直接参与市场竞争,但它在市场竞争中起着不可忽视的作用。测试系统的重要性不仅体现在生产技术领域,在医学、法律学和环境科学等领域亦是非常重要,只是体现的方式有差异而以。测试系统的重要性在核工业领域体现尤为突出,由于核工业的特殊性,它的核产品价值昂贵,核设施的安全涉及公众的安全和国际政治影响,核材料的管制更是如此。如在燃料组件生产过程中,如果由于测试数据不准确导致不合格的产品进入反应堆,将发生烧结或破损事故,直接影响核电站的安全,甚至造成巨大的经济损失和国际影响;在核材料管制中,若测试数据不准确,不能及时觉查特殊核材料不平衡,甚至丢失或被盗,将酿成恶劣的政治影响。由此可见,测试数据可靠性的重要意义。各国对核工业测试系统都非常重视。如美国,有一套有关核工业测试系统的质量控制和相关标准。

简介：

简介：不久前,航天科工二院203所为某航天单位提供了分布式计量测试系统。这意味着拿着笔记本,在没有网络的情况下,就可以去外场做实验,并且出具证书,导出数据,与网络数据实现无缝对接,这样就保证了全年证书发放的统一准确,提高了管理质量和工作效率,减少了人为失误。据悉,此次计量测试系统提供的服务将应用于卫星建设中。

简介：为充分验证100G的技术成熟度、设备成熟度、传输性能，中国移动今年4H正式启动100G测试，包括实验室与现网两部分。烽火通信日前顺利通过了所有测试内容，取得了令人满意的结果。

简介：文中通过FSA方法,分析构成海事事故的危险因素,提出实际有效的风险控制措施,基于有效性和经济性评估风险控制方案,从而得到最后的选择结果,完成本次基于FSA的秦皇岛港通航安全的研究。

简介：为改善Oddy测试法实验周期长,依靠目测判断腐蚀程度的状况研究建立了一种薄膜试片测试法,研发薄膜试片、设计成套测试容器与夹具、改变测试条件并结合数码采集腐蚀图像和对腐蚀图像数字化分析等简化藏展材料评估筛选实验操作、缩短测试时间和提高结果分级判别能力。另外,固相微萃取和气质联用仪(SPME-GC/MS)被用于表征藏展材料在挥发和降解过程中所释放的污染物成分,佐证其对银、铜和铅金属文物的潜在危害。新建薄膜试片测试法表明,14d的测试周期不仅大大缩短了测试时间,简化了操作,而且薄膜试片的使用也有利于克服人为分级的主观判断性,为数字化分级打下坚实基础。

简介：精度或质量是牺牲不得的。在制造业中，产品若达不到目标就是失败。梅赛德斯奔驰为其位于柏林的发动机厂设定了很高的标准，并辅以创新的物流、生产、装配和测试技术。这些标准在造型方面也有所规定。其生产V6共轨式柴油引擎的历史可追溯至1914年的一家生产车间里。由于受到文物保护规定的限制，该车间不得不进行一次十分小心的改造，以提供生产铝制曲轴箱和4气门气缸盖所需的31．000平方米的生产空间。