简介:摘 要:在控制器芯片设计中,SRAM作为不可缺少的一个IP,其设计的稳定性及对失效率的精准控制成为芯片设计的重中之重,在SRAM的设计及布线时的不规范,导致SRAM失效率居高不下。本文基于项目实践通过对SRAM在低温-25摄氏度下,SRAM高失效率问题进行分析和研究,明确了在IP设计以及布线时线间距走向对失效率的作用,通过调节芯片设计及布线方式,使SRAM失效率基本降为0,问题得到有效解决。
简介:摘 要:在控制器芯片设计中,SRAM作为不可缺少的一个IP,其设计的稳定性及对失效率的精准控制成为芯片设计的重中之重,在SRAM的设计及布线时的不规范,导致SRAM失效率居高不下。本文基于项目实践通过对SRAM在低温-25摄氏度下,SRAM高失效率问题进行分析和研究,明确了在IP设计以及布线时线间距走向对失效率的作用,通过调节芯片设计及布线方式,使SRAM失效率基本降为0,问题得到有效解决。
简介:随着集成电路设计规模的不断增大,在系统芯片SoC(SystemonaChip)中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要。文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bitSRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera—EPIS25上实现.
简介:SRAM作为常用的存储器,在速度和功耗方面有一定的优势,但其较大的面积是影响成本的主要原因。文章设计了一种256×8位动态功能重构的SRAM模块,在完成基本SRAM存储功能的前提下,通过设置重构标志信号tag及附加的控制逻辑信号,复用基本SRAM模块存储资源,使系统完成FIFO的顺序存储功能。整个设计一方面拓展了基本存储体的功能,另一方面,FPGA验证结果显示:实施重构方案后同一块FPGA器件的硬件资源利用率明显提高了。最后,采用插入门控时钟的低功耗优化方案进行了DC综合,结果显示动态功耗降低了59.6%。经过“重构”的方式后,只增加了少量电路便可以实现动态数字电路的基本功能,一方面完成了功能上的拓展,另一方面提高了存储模块硬件资源的利用率,使SRAM具有了更高的性价比。
简介:通过配置实时数据和函数到片内SRAM中执行,可以有效提高程序执行效率,降低功耗。然而在嵌入式Linux系统下,由于禁止用户空间程序控制或访问处理器内存的映射和分配方式,这一资源通常得不到有效利用。本文以MP3解码器为例,在μClinux-2.6操作系统下通过使用片内SRAM提高代码执行效率,并最终在Freescale公司的ColdFire5329嵌入式平台上成功验证了该方案。
简介:Inordertodeepentheunderstandingofthedifferencebetween0!1and1!0sinleeventupset(SEU)cross-sectioninanovelactivedelayelement(ADE)SRAM(StaticRandomAccessMemory)cell,theirradiationwascarriedoutatHeavyIonResearchFacilityinLanzhou(HIRFL).Usingthe86Kr26+ionsirradiatedthedeviceundertest(DUT)adoptedpartiallydepleted(PD)siliconofinsulator(SOI)technology.ThefeaturesizeofDUTfabricatedbyinstituteofmicroelectronic(IME)was180nm.TheschematicdiagramofSEUhardenADE-SRAMcellisshowninFig.1.TheADEisessentiallyaNMOSconnectedinonlyoneofthefeedbackpathsbetweenthetwoinventorsofthememorycell.Itplaysaroleasswitchingtransistor.Exceptduringawriteoperation,whentheswitchtransistoristurnedon(soasnottocompromisethewritespeed),theoff-ADEprovidesamuchgreaterRCdelaybetweenthetwoinventorsofthememorycelltoachievemuchimprovedSEUhardness[1].
简介:建立了单粒子多位翻转的测试方法和数据处理方法,在此基础上开展了体硅90nmSRAM重离子单粒子多位翻转的实验研究。通过分析单粒子多位翻转百分比、均值、尺寸等参数随线性能量转移(linearenergytransfer,LET)的变化关系,表明了纳米尺度下器件单粒子多位翻转的严重性,指出了单粒子多位翻转对现有重离子单粒子效应实验方法和预估方法带来的影响。构建了包含多个存储单元的全三维器件模型,数值模拟研究了不同阱接触布放位置对单粒子多位翻转电荷收集的影响机制,表明阱电势扰动触发多单元双极放大机制是导致单粒子多位翻转的主要因素,减小阱接触与存储单元之间的距离是降低单粒子多位翻转的有效方法。