简介:摘要:通过对基于LabWindows/CVI的智能测试设备的的研究,提出了用于电子设备的通用测试系统的设计方案。主要由通用计算机和基于PCI或者PC104/104plus总线技术的功能化硬件模块组成。用户可以通过编写测试软件驱动硬件设备。由于可以按照自己的需求设定测试任务,因此能够实现测试平台的通用化,最大限度地减少了仪器的数量同时也提高了测试系统的可维护性。
基于智能测试设备技术的电子设备测试系统