基于智能测试设备技术的电子设备测试系统

摘要：通过对基于LabWindows/CVI的智能测试设备的的研究，提出了用于电子设备的通用测试系统的设计方案。主要由通用计算机和基于PCI或者PC104/104plus总线技术的功能化硬件模块组成。用户可以通过编写测试软件驱动硬件设备。由于可以按照自己的需求设定测试任务，因此能够实现测试平台的通用化，最大限度地减少了仪器的数量同时也提高了测试系统的可维护性。

• 作者: 景芳娟 王亚丽
• 出处: 《科学与技术》 2022年10期
• 关键词: 智能测试设备 LabWindows/CVI 电子设备 测试
• 分类: [建筑科学][建筑技术科学]