简介：当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时，实测散射强度将形成对Porod定理的正偏离，从而使散射体的散射失真。提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离的方法：作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线，用公式n[q^3I(q)]=InK'+σ^2q^2拟合大波矢区直线，求出斜率σ^2,作出ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2-q^2曲线即为无偏离的Porod曲线，由此曲线再还原出无偏离的散射强度，即I^-'(q)=exp{ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2}/q^3，再以醇热法合成的介孔氧化锆粉体为例进行了讨论。

简介：本文叙述了同步辐射全反射X射线荧光分析的实验装置和方法，给出了几种标准物质实验的检出限，我们已在细胞元素谱、体液和水样方面作了一些研究，并对实验结果进行了讨论。

简介：新型硅P-N结光电超二极管对光于能量响应范围已达到了X射线范围。它具有线性范围大，能量响应范围宽，量子效率高等优点，因而适用X射线之探测。本文介绍了以光电二板管构成同步辐射XAFS探测器替代传统的电离室探测器组合的研究工作，给出了的探测器结构设计，工作原理，实验结果及讨论。

简介：

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简介：介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究，在X光底片上观察到了Moire干涉条纹，为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。

简介：电离辐射计量作为国防计量的一个重要组成部分,要认真落实国防科工委领导同志在1992年第二次国防计量工作会议上的指示精神:积极采用ISO9000族国际标准(含ISO10012),尽早提出切实可行的实施方案。笔者在学习研究ISO10012-2《测量过程的控制》的基础上,就制定电离辐射计量标准装置的测量过程控制的实验方案,从理论和实践方面提出一些观点和建议,内容涉及到量传的方式和方法,标准装置测量过程控制的实验方法等方面的问题。这些问题是电离辐射计量领域内亟待解决的研究课题。

简介：本文介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法，即由成像板探测器检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法，并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论．

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简介：本文简要介绍了能力测试及其意义，着重描述能力测试中测量不确定度的表示和评定．

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简介：采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微晶硅薄膜。其结构特征用Raman谱，红外透射谱，小角X射线散射等来表征。结果表明微晶硅的大小及在薄膜中的晶态比Xc随氢稀释度的提高而增加。而从红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度的增加而减小。小角X射线散射结果表明薄膜致密度随氢稀释度的增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H的增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H的键合状态。认为随着晶化的发生和晶化程度的提高H逐渐移向晶粒表面，在硅薄膜中H的存在形式从以SiH为主向SiH2转变，即在微晶硅膜中主要以SiH2形式存在于晶粒的界面。

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简介：针对我国目前有大批高活度60Co放射源面临退役的情况，对其存在的问题进行了分析，并对其解决方法进行了探讨。

简介：1引言本文通过对在许多国家已广泛开展而我国刚刚起步、即将全面铺开的“实验室认可”工作及相关国际导则(主要是ISO/IEC导则25)的介绍,希望能引起核科技工业系统的广大职工,特别是从事计量测试及其它测量工作以及质量、标准化工作的技术和管理人员的高度重视,注意这一新动向,加强有关理论知识的学习,积极参加有关部门组织的培训,做好准备,迎接新的挑战,使我们的工作纳入科学化、法制化的管理轨道,并加速与国际市场接轨的步

简介：应用同步辐照光源进行高温高压原位能量色散X射线衍射实验，入射X射线光束定位是关键，北京同步辐射实验室高压衍射站引入四刀光阑扫描系统，实现调光定位自动化，简化调光手续，提高实验效率，为高压衍射实验站的用户进行实验提供了方便。