简介：用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性．根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟，得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式：在靠近样品表面一侧的衰减长度为8埃，而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为3埃，且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ce原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等)对样品低角反射曲线的影响．

简介：为了分析电流型CdZnTe（CZT）探测器的脉冲线性,利用CZT探测器测量得到了脉冲宽度为50ns的脉冲X射线响应曲线,采用波形时间积分法分析了其线性特性。结果表明,以波形时间积分为测量目标量,当X射线照射量在0.160-0.826mR范围时,在10%的不确定度范围内,样品探测器可作为线性测量系统的探测器件;以幅值为测量目标量,工作电压为400V时,在5%的不确定度范围内,样品探测器可作为线性测量系统的探测器件。

简介：首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。

简介：应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定。采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998。考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%。

简介：建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量的快速分析方法。采用高压粉末制样法,对不同含量的放射性样品的压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400MPa压力下压制,克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线的标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线的标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。

简介：分别研究了采用压片、熔片两种制样方法，用x射线荧光光谱法（XRF）测定了红土镍矿中的9种元素。压片法重点研究了基体效应校正，经散射线作内标和经验系数法校正后，可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素，方法简便、快速；而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择，经基体效应校正，各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美，其相对标准偏差（RsD）在0．50％-3．00％间。

简介：以Li_2B_4O_7、LiBO_2和LiF（质量比为45∶10∶5）为混合熔剂,NH_4NO_3为氧化剂,LiBr为脱模剂,熔融制作样片,采用硅质砂岩、石英岩标准样品和配制标准样品作为校准样品,建立了熔融制样-X射线荧光光谱法（XRF）测定硅石中主次量成分（SiO_2、Al_2O_3、TFe_2O_3、MgO、CaO、K_2O、MnO、TiO_2、P_2O_5）的快速分析方法。对样品制备以及分析测试过程中的条件进行了优化,在最优条件下,对标准样品（GBW03112、GBW07835）进行重复测定,相对标准偏差RSD〈2%。同时对3个混合配制的硅石标准样品进行分析,结果与参考值无显著性差异。

简介：建立了采用X射线荧光光谱法测定液体水玻璃中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量的方法。研究了适合直接测定液态水玻璃的制样方式、仪器分析参数,确定了工作曲线并录入数据库中。对未知样品的测定结果与化学法、电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定结果对比分析,证实了方法具有良好的准确度。精密度实验显示,方法的相对标准偏差（RSD）在0.38%-14.3%。结果显示方法的准确度、精密度完全可以满足对水玻璃中主次成分测定的要求。

简介：采用熔融制样，以钾长石、钠长石国家标准样品为主，辅以粘土、炉渣、硅石等标准样品，配制成一系列校准标准样品，用X射线荧光光谱法测定钾长石和钠长石中的Na20、A1203、Si02、K20、CaO、Fe2O2、TiO2的含量，结果表明：方法的相对标准偏差为0．065％-2．9％，其测定结果与标准值基本一致，准确度好，可替代湿法化学分析，适合于长石类硅铝酸盐矿物的日常分析。

简介：应用X射线荧光光谱法测定富锰渣中Mn，Fe，SiO2，Al2O3，TiO2，CaO，MgO，Na2O，K2O，S，P，CuO，ZnO，NiO，BaO15种主次组分。使用混合熔剂在1050℃熔融制备样片，消除了试样的粒度效应和矿物效应，同时也解决了S元素在制样过程中容易挥发的难题。确定仪器测量的最佳参数，研究了熔样的条件、校正模式。各元素的相对标准偏差（RSD，n=10）≤10％，测定结果与化学法测定值相符。方法快速、准确、方便快捷，具有良好的精密度和准确性，可用于富锰渣产品的品质评价和成分分析。

简介：采用粉末压片法建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量的方法，通过测定氧元素来计算三氧化二铝的含量；重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素的粉末压片制样的影响因素，同时采用二点法对氧元素进行背景扣除，运用固定“系数法校正基体效应；方法的相对标准偏差RSD低于2．00％，方法的检出限为163mg／kg，相对分析误差控制在3％以下，误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许的范围之内。方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量，结果准确，符合生产要求。方法简单、快速、灵敏，能够作为铝电解质中氧化铝的有效检测手段。

简介：详细论述了压片法及熔融片法测定钼精矿的分析条件。其中压片法通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线，因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略。详细地讨论了元素之间谱线干扰、背景和脉冲高度选择。使用经验系数法校正基体效应，可准确测定钼精矿中的钼、硫、铁、铜、铅、锌等11种元素。在熔融片法中主要讨论了元素谱线的选择及其相互之间的干扰，经理论α系数校正后，可准确测定不同钼矿中的多种元素，其适用范围更广。

简介：采用闪烁体加光电管，建立了一套X射线功率谱测量系统，在“强光”1号丝阵Z-pinch实验中，获取了喷气和丝阵负载的X光辐射功率波形。实验表明将X光探测器设置在与主测量管道成90°的分测量管道中，并选用ST-401闪烁体或红光闪烁体为X光/荧光转换材料，能使可见光透过闪烁体而不在闪烁体中有沉积能量。实验中X光探测器的电磁屏蔽也得到了解决。

简介：本文使用自制标准样品，采用混合熔剂熔融样品，用X射线荧光光谱法（XRF）测定锶永磁铁氧体半成品中Fe、Sr、Si等元素的含量。熔融制样有效地消除了矿物效应，并降低了基体效应的影响。实验结果表明，本法准确度高，重现性好，平行测定11次相对标准偏差（RSD）可达到0．1％。该方法用于实际样品分析，其结果与传统化学分析方法结果相符。

简介：关于X光折射率小于1的讨论=AdiscussionontherefractiveindexofX—raylessthan1[刊,中]/谭业武(滨州师范专科学校物理系)∥大学物理.—1994.13(11).—22—23,21从几个不同的方面讨论了X光的折射率,并通过

简介：建立了x射线荧光光谱法测定镓酸钠溶液中的镓和钒含量的方法，通过塑料样品杯和麦拉膜封装液体样品，测定中添加仪器自带Zn、Cr两种影响元素排除干扰，减少x射线荧光光谱仪对样品测定结果的偏差，即可得出镓和钒在样品中的含量。结果表明，方法的相对标准偏差（RSD）小于3％，加标回收率为93．33％～102．1％，可实现金属镓生产过程中的物料成分快速检测。

简介：采用粉末压片制样,利用X射线荧光光谱分析仪,对石灰石、白云石等灰岩类标准物质拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱(XRF)法同时测定灰岩类样品中主次量组分(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、MnO、P)的快速分析方法。通过灼烧减量对SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO5种主量成分含量进行换算后建立校准曲线,大大地改善了分析的准确度和精密度。通过实验优化了制样条件,对灰岩类试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)<2%;对石灰石、白云石标准样品和实际样品进行准确度考察,测定值与标准推荐值或传统方法的测定值一致。

简介：主要介绍了理学ZSXPrimusⅡX射线荧光光谱仪的一些日常保养和出现故障的现象及处理方法。

简介：介绍了同步辐射心血管造影术、计算机断层扫描术、肺部支气管成像术、乳腺成像术、辐射治疗等医学活体诊断和治疗技术的原理、应用现状以及近年来国际上各同步辐射实验室医学应用的发展情况．

简介：目前，国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法，只能根据组分范围分别检测各个组分，不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si，P，S的方法。采用粉末压片制样，研究其制样条件，包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品，作为x-射线荧光光谱法内控标准样品，采用经验系数法进行基体校正，通过解谱拟合建立校准曲线，校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好，各元素的相对标准偏差在0．15％-1．3％。准确度满足生产需求，实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。