简介：Bland规则是退化问题中避免循环的一种方法.本文给出了Bland规则的两种改进形式,并从理论上证明了规则Ⅲ为有限规则.另外,还对一个退化问题给出了相应于不同规则的解法.

简介：对国产科学级4T-CMOS图像传感器进行电子辐照实验,考察了暗电流、饱和输出灰度值、暗信号非均匀性等参数,分析了器件的电子辐照效应损伤机理。实验结果显示,随着辐照总吸收剂量的增加,器件的饱和输出灰度值下降,并且暗电流显著增加。分析认为,器件的饱和输出灰度值退化机制与电离总剂量效应引起的退化物理机理一致,辐照使转移栅沟道电势势垒下降是饱和输出灰度值下降的主要原因,而暗电流的增长主要由浅槽隔离界面缺陷和体缺陷造成。10MeV电子辐照后暗电流退化表现出一定的偏置效应,这是由10MeV电子辐照引起的位移损伤所致。

简介：对一款CCD进行了3MeV质子辐照试验和退火试验,获得了2种注量率质子辐照下CCD参数的退化规律,分析了CCD产生缺陷与质子注量率之间的关系。研究表明:不同注量率质子辐照下,CCD中产生的位移损伤缺陷存在差异,但CCD的暗信号和电荷转移效率没有明显改变,且室温退火后,不同质子注量率辐照下,CCD受到的辐射损伤差异更小。研究结果可为揭示地面模拟实验中质子入射CCD产生缺陷的机制、影响因素及建立质子辐射效应损伤模型提供理论与试验方法的支撑。

简介：利用拉什密辛型定理讨论了变系数退化时滞微分系统解的稳定性，并给出了一个具体的判定定理．

简介：讨论了一类中立型退化时滞微分方程的周期解的存在条件,并且给出了二维退化滞后微分方程的周期解的存在性问题,且给出了一个充要条件和两个充分条件,最后举例说明结论的有效性。

简介：本文利用Hessian度量和横截向量场，给出了非退化二次函数的水平曲面的一个充要条件。

简介：考虑含分布时滞的退化中立型系统的鲁棒稳定性.利用算子Ω的稳定性和线性矩阵不等式得到一个新的鲁棒稳定性判据,本判据将中立型时滞、时变离散时滞、时变分布时滞和退化中立型系统一起考虑,相比已有文献具有较低的保守性.利用Matlab可以验证本判据的有效性.