简介:<正>笔者在组编本期文章的过程中,意外地发现几篇文章之间存在特别的一个共性,就是不约而同地提到了政府对于产业或经济发展的"干预"。此处,干预是中性词,为"介入"意。比如,《深圳LED产业的留守抉择》一文是从深圳市政府废止2009年3月出台的《深圳市LED产业发展规划(2009—2015年)》说开去的;《嘀嘀打车再遭滑铁卢》一文中提到,深圳市交委紧急叫停手机打车应用软件,其理由是这些民间软件还不成熟,影响了相关部门的监管;而在文章《杨浦模式:创新之志铸造一流孵化器》中则分享了中国著名的科技企业孵化器杨浦科创中心如何从只靠政府输血到走市场化发展之路找到了
简介:大家知道,AOI,也就是自动光学检测,作为一种结构性测试手段,在SMT等生产环节得到大量使用,通过过程控制来帮助提升SMT加工质量;有引脚器件,特别是IC的密间距引脚(简称IC引脚)连焊是一种常见SMT缺陷,在密间距IC中尤其突出,是发生度很高的一种SMT缺陷;另方面,器件短路作为严重度最高级别的缺陷,危害大,损失也大,后果非常严重;单板生产的下一工序,整机生产等对此非常重视,多次提出改进需求;作为SMT的检测手段,减少IC连焊缺陷遗漏,成为我们紧急任务,也是长期任务;另方面,我们看到,在h0I检测中,IC连焊的误报情况也是非常严重的,这虽然有我们材料一致性不好,焊接工艺一致性不好,AOI设备机器差异等外部因数息息相关;但我们自身的因数也不可回避;我们的员工在h0I降误报的过程中,因为理解偏差等原因,在参数的标准性和实际操作的灵活性之间没有找到平衡点,往往修改过大,误报是降下来了,但不必要的漏报也产生了;在前段时间的观察中,都反映出同样的问题。本文提出一个新的思路,分析IC连焊的图象类型,将其分成两类:明亮型,和相对宽一些的暗淡型;同样将原来的IC连焊检测项目也由一个增加成2个(所增加一个为我们超常规使用供应商设备职能),分别检测对应两类连焊缺陷图象;这样来减少连焊缺陷遗漏的机会;另方面,由于解决的不良图象分别有针对性,这两个条目中,相关参数可以有条件地弱化,这也为减少连焊缺陷误报创造了可能.本方法已经成功实践,在VT-WINII设备上的E72U6—2-V010等AOI程序上试用过,效果显著,建议推广,并继续观察和改进。
简介:提高紧耦合天线的隔离度是雷达、通信和电子对抗等许多领域中提升系统性能的技术之一,目前的方法大多以牺牲天线辐射效率为代价。研究了一种基于反相耦合相消理念的去耦方法,可以在极小间距情况下实现天线单元之间的高隔离度,并且保持较高的天线增益。利用一种微带双天线结构来验证这一方法,这种结构的两个天线都工作于1.8GHz,相互间的间隔为10mm(1/16波长),仿真和实验结果说明,两个天线间的隔离可以低于-20dB。经仿真结果显示该结构中的天线增益要大于0dB,与不经隔离设计时的同结构同尺寸天线差别约1dB。初步实现了在较小地影响辐射性能的前提下实现紧耦合天线之间的高隔离目标。