简介:摘要:应变MOS器件是在以Si为基础的MOS器件制造过程中引入了应力。通过在氮化硅盖帽层上施加应力使器件的晶格常数差异可以产生压应变或张应变,从而提高载流子的迁移率。
应变PMOS沟道区应力分布与器件结构参数关系的研究