简介：摘要 为了研究ADSS光缆电腐蚀机理，本文首先介绍了引起ADSS光缆电腐蚀的原因，接着选取运行几年的ADSS光缆上已发生显著电腐蚀和未发生电腐蚀的部分，对其外护套材料进行理化分析。实验结果表明，电腐蚀后光缆表面的晶粒结构被破坏，出现漏电蚀痕，DSC曲线样品熔融温度降低，C元素含量增加，O元素减少。在1500-1700 cm-1波数范围内对应-CH3的特征吸收峰减弱，在3360cm-1处对应-OH伸缩振动的吸收峰增强，外护套发生氧化。由光缆电腐蚀机理及理化实验结果可知，ADSS光缆的电腐蚀现象主要由干带电弧机制和电晕放电导致。
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