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  • 简介:摘要  为了研究ADSS光缆电腐蚀机理,本文首先介绍了引起ADSS光缆电腐蚀的原因,接着选取运行几年的ADSS光缆上已发生显著电腐蚀和未发生电腐蚀的部分,对其外护套材料进行理化分析。实验结果表明,电腐蚀后光缆表面的晶粒结构被破坏,出现漏电蚀痕,DSC曲线样品熔融温度降低,C元素含量增加,O元素减少。在1500-1700 cm-1波数范围内对应-CH3的特征吸收峰减弱,在3360cm-1处对应-OH伸缩振动的吸收峰增强,外护套发生氧化。由光缆电腐蚀机理及理化实验结果可知,ADSS光缆的电腐蚀现象主要由干带电弧机制和电晕放电导致。

  • 标签:   ADSS光缆电腐蚀   理化分析     干带电弧     电晕放电
  • 简介:摘要目的评价药物涂层球囊(DCB)治疗症状性颅内动脉粥样硬化性狭窄的围手术期安全性和疗效。方法回顾性纳入2018年1月至2021年8月在郑州大学人民医院接受DCB治疗的49例症状性颅内动脉粥样硬化性狭窄患者,其中颈内动脉颅内段5例、大脑中动脉21例、椎动脉颅内段11例、基底动脉12例。先行普通球囊预扩张病变后再行DCB成形术,术后30、90、180、360 d进行临床随访,术后180 d行影像学随访。分析技术成功率(定义为球囊扩张治疗后残余狭窄<50%患者所占比例)、围手术期安全性(1个月内所有的卒中、TIA和死亡)、随访卒中复发及再狭窄等情况。结果所有患者均成功实施手术。狭窄程度由术前80%(75%,85%)改善为术后即刻20%(15%,30%),技术成功率91.8%(45/49),11例(22.4%,11/49)因严重限流性血管夹层或非限流性夹层,术者担心夹层随后进展给予支架植入。3例(6.1%,3/49)因明显的血管弹性回缩植入支架。围手术期1例(2.0%,1/49)患者发生症状性脑梗死,经治疗后症状好转。无致死致残性卒中发生。所有患者均获得临床随访,中位随访时间12个月,2例(4.1%,2/49)患者发生责任血管区域卒中事件,1例(2.0%,1/49)患者发生非责任血管区域卒中事件。38例(77.6%,38/49)患者获得影像随访,中位影像随访时间6个月,发生2例再狭窄(1例症状性再狭窄),再狭窄发生率5.3%(2/38)。结论DCB治疗症状性颅内动脉粥样硬化性狭窄患者技术成功率高,围手术期安全性良好,短期随访卒中复发率低,提示可能具有较好可行性、安全性和疗效。

  • 标签: 放射学,介入性 颅内动脉硬化 药物涂层球囊