首页
期刊导航
期刊检索
论文检索
新闻中心
期刊
期刊
论文
首页
>
《测控自动化》
>
2004年11期
>
下一代晶体管露脸
下一代晶体管露脸
(整期优先)网络出版时间:2004-11-21
作者:
自动化与计算机技术
>检测技术与自动化装置
分享
打印
同系列资源
资料简介
ATDF公司和HPL公司最近展示了面向多栅场效应晶体管(MuGFET)的45nm技术节点上的工艺能力,MuGFET这种先进的半导体器件最终可能取代传统的CMOS晶体管。
/
1
ATDF公司和HPL公司最近展示了面向多栅场效应晶体管(MuGFET)的45nm技术节点上的工艺能力,MuGFET这种先进的半导体器件最终可能取代传统的CMOS晶体管。
同系列内容
《测控自动化》2004年11期 - S42WD61的原理与应用
2004-11-21
242
《测控自动化》2004年11期 - 实时操作系统VxWorks下PCI总线配置技术
2004-11-21
3916
《测控自动化》2004年11期 - AT89C51单片机用于大型比赛钟控制
2004-11-21
2123
《测控自动化》2004年11期 - 基于FLEX10K的虚拟仪器群中多段存贮计时仪
2004-11-21
4520
《测控自动化》2004年11期 - 智能型通用数字显示仪的设计方法
2004-11-21
5274
查看全部
来源期刊
测控自动化
2004年11期
相关推荐
关心下一代
关心下一代
关心下一代
下一代网络
下一代网管系统
同分类资源
更多
[检测技术与自动化装置]
富士通赞助上海世博会日本馆
[检测技术与自动化装置]
网络数字视频管理平台的应用前景及功能分析
[检测技术与自动化装置]
高速公路视频多级联网监控的应用
[检测技术与自动化装置]
泰克公司亚太区高层对中国业务充满信心
[检测技术与自动化装置]
安防视频监控系统常见故障分析及解决办法
相关关键词
CMOS晶体管
一代
场效应晶体管
半导体器件
工艺能力
技术节点
下一代晶体管露脸
/
1
重新阅读
+在线打印
返回顶部