Effects of Electrode on Resistance Switching Properties of ZnMn_2O_4 Films Deposited by Magnetron Sputtering

(整期优先)网络出版时间:2016-06-16
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ZnMn2为抵抗随机存取存储器(RRAM)的O4电影被磁控管劈啪作响与不同设备结构制作。I-V特征,抵抗切换行为,耐力和ZnMn2O4电影被调查。ZnMn2象底部电极的O4电影,使用的希腊语的第二十三个字母和磅,展出双极的抵抗切换(BRS)行为处于低抵抗状态(LRS)处于高抵抗状态(HRS)和细丝传导机制由space-charge-limited传导(SCLC)统治了机制,但是ZnMn2用底部电极展出双极、单极的抵抗切换行为的n-Si的O4电影在幼虫由Poole-Frenkel(P-F)传导机制控制了Ag/ZnMn2O4/p-Si设备拥有最好的耐力和保留特征,交换周期的稳定的重复的数字在是超过1000,保留时间比106秒长。然而,最高的RHRS/R104的LRS比率和最低V在和V离开3.0的,V在Ag/ZnMn2O4/Pt设备。不过Ag/ZnMn2O4/n-Si设备也拥有最高的RHRS/R104,的LRS比率但是V在,V离开,RHRS和R象差的耐力一样的LRS,并且保留特征。