首页
期刊导航
期刊检索
论文检索
新闻中心
期刊
期刊
论文
首页
>
《半导体信息》
>
2007年4期
>
拓扑技术为先进低功耗和测试技术设计提供早期预测
拓扑技术为先进低功耗和测试技术设计提供早期预测
(整期优先)网络出版时间:2007-04-14
作者:
希雷
电子电信
>物理电子学
分享
打印
同系列资源
资料简介
/
1
同系列内容
《半导体信息》2007年4期 - 元件堆叠封装(PoP)技术发展概况
2007-04-14
2269
《半导体信息》2007年4期 - 拓扑技术为先进低功耗和测试技术设计提供早期预测
2007-04-14
1809
《半导体信息》2007年4期 - CUNO发布最新过滤器 能去除小至10nm的污染物
2007-04-14
5822
《半导体信息》2007年4期 - 飞兆半导体推出具有业界最小外形尺寸封装的高集成度数字晶体管
2007-04-14
4212
《半导体信息》2007年4期 - 超晶格沟道能够降低栅极泄漏
2007-04-14
439
查看全部
来源期刊
半导体信息
2007年4期
相关推荐
高速低功耗无线传感器网络数据传输技术设计和分析
SoC低功耗设计及其技术实现
固态硬盘和主控低功耗设计研究
低功耗嵌入式系统设计和优化
浅析低功耗仪表设计要点
同分类资源
更多
[物理电子学]
艺术品复制的前景分析——访爱普生(中国)有限公司TP销售推进部图像产品策划科经理 刘波
[物理电子学]
ARM与TSMC完成首件20nm ARM Cortex-A15多核处理器设计定案
[物理电子学]
Design and Fabrication of Hybrid Piezomotor Applied in Precision Positioning Devices
[物理电子学]
千万门级FPGA装箱实现及验证
[物理电子学]
Study on generation in grey system theory
相关关键词
测试技术
早期预测
COMPILER
功耗管理
测试数据量
实现阶段
拓扑技术为先进低功耗和测试技术设计提供早期预测
/
1
重新阅读
+在线打印
返回顶部