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《同步辐射装置用户科技论文集》
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2000年1期
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An XAFS measurement of copper thin film by a simple detector in total—electron—yield mode
An XAFS measurement of copper thin film by a simple detector in total—electron—yield mode
(整期优先)网络出版时间:2000-01-11
作者:
T.Liu Y.N.Xie 等
核科学技术
>核技术及应用
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