首页
期刊导航
期刊检索
论文检索
新闻中心
期刊
期刊
论文
首页
>
《北京同步辐射装置年报》
>
1998年1期
>
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
(整期优先)网络出版时间:1998-01-11
作者:
刘涛;胡天斗;等
核科学技术
>核技术及应用
分享
打印
同系列资源
资料简介
/
1
同系列内容
《北京同步辐射装置年报》1998年1期 - 纳米晶BaTiO3的高压研究
1998-01-11
5198
《北京同步辐射装置年报》1998年1期 - 高压下硫的X射线衍射研究
1998-01-11
4251
《北京同步辐射装置年报》1998年1期 - 高压下La0.4Bi0.1Ca0.5MnO3中晶格畸变的研究
1998-01-11
6755
《北京同步辐射装置年报》1998年1期 - SRXRF微探针技术研究股骨头切片元素的精细分布成像
1998-01-11
5938
《北京同步辐射装置年报》1998年1期 - MoO3在Al2O3薄膜表面扩散的研究
1998-01-11
7004
查看全部
来源期刊
北京同步辐射装置年报
1998年1期
相关推荐
测量XAFS谱的全电子产额技术
电气电子产品用非金属材料的性能探讨
微电子技术中的半导体薄膜材料
电子产品材料的物流储运策略研究
Rb3C60单晶薄膜的同步辐射光电子谱研究
同分类资源
更多
[核技术及应用]
EXAFS研究Co/γ—Al2O3催化剂中钴的精细结构
[核技术及应用]
The Development of a Megawatt-Level High Current Ion Source
[核技术及应用]
Characterization and comprehension of corona partial discharge in air under power frequency to very low frequency voltage
[核技术及应用]
Operando FT-IR study on basicity improvement of Ni(Mg,AI)O hydrotalcitederived catalysts promoted by glow plasma discharge
[核技术及应用]
同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用
相关关键词
全电子产额技术
测量
薄膜材料
XAFS谱
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
/
1
重新阅读
+在线打印
返回顶部