简介:摘要目前,电容式电压互感器(CVT)在电网中应用越来越普及,其中,220kV电压等级的CVT在结构上具有典型意义。根据相关规程规定,例行试验时要进行耦合电容器的介质损耗因数(tanδ)和电容量测试,以检查互感器中是否存在受潮、绝缘老化等缺陷。
简介:摘要本文回顾了HfO2及其MOS结构的辐照损伤效应研究进展,介绍了HfO2/Si系统的本征特性及其在辐照作用下的陷阱电荷特性及物理化学特性研究的主要成果。
220kV电容式电压互感器介质损耗因数及电容量测试分析
氧化铪栅介质及其金属-氧化物-半导体结构的辐照总剂量损伤效应研究进展