简介:In_2O_3∶SnO_2(ITO)thinfilmswerefabricatedonthesubstrateofflexiblepolyethyleneterephthalate(PET)byDCmagnetronsputteringfromaceramictargetofIn_2O_3/SnO_2(90∶10).PropertiesofthethinfilmswerecharacterizedbyX-raydiffraction(XRD),four-pointprobe,Hall-effectmeasurement,UV-Visspectrophotometer,andscanningelectronmicroscopy(SEM).Theeffectsofsputteringpressure,oxygenpartialpressureanddepositiontemperatureonpropertiesofmicrostructureandoptoelectronicspropertiesofPET/ITOthinfilmswereinvestigatedindetail.High-qualityITOthinfilmsonPETsubstrateswiththeresistivityaslowas8.5×10-4Ω·cmandtheopticaltransmittanceover80%inthevisiblespectrumrangewereobtained.
简介:摘要:透明导电电极(TCE)是液晶显示屏、触摸屏、太阳能电池等电子产品的重要组成部分之一。其中透明导电材料氧化铟锡(ITO)作为市场化的窗口电极用于电子元器件中。但是随着柔性电子器件不断兴起,对电极材料可柔性加工的需求也逐步提高,ITO材料自身不耐弯折的劣势使得各课题组对其替代材料的研究投入了更多的关注,不但要具备高的电学性能与光学透过率,且可柔性加工为后续可穿戴、可弯折、可卷曲的电子设备提供有力的支撑。 关键词:透明电极、ITO、ITO替代材料
简介:在这份报纸,我们将第一说明我们为什么应该介绍一它吗?打珍视集合的随机的微分方程并且我们为什么应该注意几乎到处问题。第二,我们将给不可分的Aumann类型Lebesgue的一个清楚的定义并且关于时间t珍视集合的随机的过程证明Lebesgue的measurability不可分。然后,我们将介绍一些新性质,特别证明珍视集合的Lebesgue积分的重要不平等。最后,我们将证明存在和的一个强壮的答案的唯一它吗?打珍视集合的随机的微分方程。关键词珍视集合的随机的过程-珍视集合的Lebesgue积分-珍视集合的随机的微分方程-强壮的解决方案先生(2000)题目分类60D05-60H10由中国(资助号码10771010)的国家自然科学基础支持了,PHR(IHLB),北京教育委员会,的研究资金中国;并且为科学研究19540140的Grant-in-Aid,日本
简介:Thesurfaceandinterfaceelectronicstatesoftris-(8-hydroxyquinoline)aluminum(Alq3)/indium-tinoxide(ITO)weremeasuredandanalyzedbyX-rayphotoelectronspectroscopy(XPS).Theresultsindicatedthat,inAlq3molecule,thebindingenergy(Eb)ofAlatomsis70.7eVand75.1eV,correspondingtoAl(O)andAl(Ⅲ),respectively;ThebindingenergyofCis285.8eV,286.3eV,and286.8eV,correspondingtoCofC-Cgroup,C-O,andC-Nbond,respectively.Nisthemainpeaklocatingat401.0eV,correspondingtoNatomofC-N=C.OatomsmainlybondtoHatom,withthebindingenergyof533.2eV.AsthesputteringtimeofAr+ionbeamincreases,Al2p,C1s,N1s,O1s,In3d5/2andSn3d5/2peaksslightlyshifttowardslowerbindingenergy,andAl2p,C1sandN1speaksgetweaker,whichcontributestodiffusingtheoxygen,indiumandtininITOintoAlq3layer.
简介:接口特征在薄电影设备的性能上拥有很重要的影响。ITO/PTCDA/p-Si薄电影设备与真空蒸发和噼啪声免职方法被建立。ITO/PTCDA/p-Si的表面和接口电子国家被X光检查光电子光谱学(XPS)和氩离子横梁调查蚀刻技术。结果在ITO/PTCDA/p-Si,不是仅仅ITO/PTCDA-Si的接口显示那而且PDCDA-Si能生产散开。而且,每个原子的XPS系列显得化学移动,和Ols和Ols的化学移动是更显著的。CLC数字O484文件代码A工程被中国的国家自然科学基础支持(不同意60076023)