简介：Thisworkaimedtoresearchthestructuremodelsofamorphousmaterials.Fiveamorphousandparacrystallinesamples（naturalorartificial）wereinvestigatedvia29Si/27Alnuclearmagneticresonance（NMR）andfieldemissionscanningelectronmicroscopy/energydispersivespectroscopy（FE-SEM/EDS）.TheresultsofNMRshowedtheresonancesofdifferentspecimens：-93.2ppm,-101.8ppm,-111.8ppmfornaturalpozzolanaopalshale（POS）.ThesepeakswereassignedtotheQ2（2OH）,Q3（OH）/Q4（1Al）andQ4respectively.Theresultsof27AlMASNMRindicatedthatAlsubstitutedforSisiteintetrahedralexistinginthePOS,whiletheAl/Siatomicratioinopalwaslow（around0.04）.Forthealkali-silicate-hydrategel,therewereatleastthreeresolvedsignalsassignedtoQ0andQ1,respectively.Forthefusedsilicaglasspowder,thereweretheprimarysignalscenteredaboutattherangefrom-107to-137ppm,whichwereassignedtoQ4units.Inaddition,thepeaksataround-98and-108ppmwerecorrespondingtoQ3（1OH）andQ4unitsexistinginaerogelsilicastructure.

简介：为帮助工厂了解活性组分在催化剂载体表面的分布情况，利用扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱（SEM—EDS）进行测试分析，结果显示，500—6／5000—12测试法能简单有效地对催化剂上元素的分布情况进行表征，对催化剂表面上活性组分的分布研究具有重要研究价值。

简介：为了应对节能大潮的到来，更好地服务于用户，深圳市易能电气技术有限公司于5月底隆重推出EDS2080系列工频变频一体化节能控制柜，该产品主要面向各节能工程改造商。其主要特点为：

简介：目的探索电工胶带带基的元素检验方法。方法利用扫描电镜/能谱法（SEM/EDS）对电工胶带带基中的主体元素进行定量分析,通过SPSS软件对SEM/EDS定量分析法检测出的主体元素（Cl和Ca）相对含量进行统计分析;利用X射线荧光光谱法（XRF）对电工胶带带基中的微量元素进行定性分析。结果34个品牌红色电工胶带组成的561组样品对通过SEM/EDS定量分析法可以区分539组,区分率达到96.1%;根据XRF法定性分析测出的Mg、Al、Si、S、Ti、Sb、Ba、Pb微量元素的不同组合可将34种电工胶带分成11组,两种方法结合可使不同品牌红色电工胶带的区分率达到98.4%。结论SEM/EDS法和XRF法结合可以实现同种颜色、不同品牌电工胶带的高效区分。

简介：利用扫描电子显微镜（SEM）、X射线能谱仪（EDS）及X射线波谱仪（WDS）研究了铜及其氧化物的ILα/IKα和ILα/ILβ谱线强度比的价态效应。结果表明,不同价态铜的ILα/IKα和ILα/ILβ谱线强度比按一定的规律随价态而变化,即谱线强度比值随价数增加而减少。

简介：四零四科技最近宣布其EDS-508系列工业以太网络交换器产品，已全面通过ABBIndustrialIT认证，此认证使Moxa在众多工业级以太网络交换器制造商中，成为少数取得IIT标章的工业网络通讯大厂。

简介：2015年1月4日，美国中弗罗里达大学（Uni—versityofCentralFlorida）刘俊杰教授应邀到我院进行学术交流和报告。刘俊杰教授是美国中弗罗里达大学飞马杰出教授，美国洛克希德马丁公司圣劳伦工程教授，中国教育部“长江学者”讲座教授，电气与电子工程师协会（IEEE）电子元件分会（EDs）副主席，英国工程技术学会（IET）院士和美国艺术与科学研究院（AAAS）院士，“2014年IEEEEDS全球教育家奖”获得者。

简介：摘要：本文介绍了扫描电子显微镜-能谱仪（SEM-EDS）在多层镀层厚度测量研究中的应用。扫描电子显微镜是通过背散射电子原子序数衬度不同来显示镀层与基体之间的界限，不需要对试样进行侵蚀步骤，制样比较简单，为了防止误判也可以用能谱仪来判断镀层的化学成份。