简介:定子绕组故障一般起因于接地壁或者匝间绝缘故障。故障机理包括绝缘中的薄弱部分逐渐的发展。这种薄弱部分通常是连续不断地扩张的空穴所造成的,而这种扩张则是由于不断增加的电晕或局部放电活动所引起的。这个故障方式是从内向向外的。近来在实际电机上的故障研究,和耐压试验下的线圈研究,表明故障能够从外向内发生。表面污染导致剧烈的表面放电和漏流径形成。这种表面放电在电晕活动的向内运动之后能够导致迅速的绕组故障。本文把漏流径形成视作一种故障机理,并对目的在于比较绝缘材料的防漏流径形成能力的一系列标准绝缘材料试验作了叙述。这些试验表明,绝缘材料的结合能够降低一个相当坚固的绝缘系统的防漏流径形成能力,并使其容易发生故障。
简介:摘要:目前紫外成像仪检测结果输出的直观数据是电晕放电位置的光子数,根据紫外光子数多少可判断故障位置的电晕放电强度。我们建立了紫外辐射检测平台,评估了视角和测量距离对紫外辐射检测技术的影响,并提出了检测光子数的坐标转换方程以补偿影响引起的误差。然而,我们认为利用紫外图像中的光斑面积进行紫外成像检测比利用光子数更高效,光斑面积随检测距离、仪器增益的变化规律较好,可从成像和仪器的工作原理进行明确地解释。我们进行了绝缘子电晕放电紫外检测实验,比较分析了光子数和光斑面积在量化电晕放电强度时的差异,发现使用光斑面积量化放电不存在多值问题,可以得到更准确的结果。由此可知,在紫外放电检测中,光斑面积更适合作为紫外成像仪的输出量。
简介:SY509-3-01[篇名]Characterizationofsaltparticle-inducedcorrosionprocessesbysynchrotron-generatedX-rayfluorescenceandcomplementarysurfaceanalysistools;SY509-3-09[篇名]ChemicalandElectricalTechniquesforConditionAssessmentofCompositeInsulators;……