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  • 简介:本文针对测定技术进步的DEA模型在实际应用中存在的问题,具体分析了它的应用前提。对于违反此应用前提的实际问题,论文给出了一个新的扩展模型,并分析了这两个测算·模型的计算精度。

  • 标签: 测定 扩展模型 DEA 技术进步 反投影法 数据包络分析