简介:摘要:随着存储技术的不断发展,当今主流的三种DRAM、SRAM和Flash非易失性存储器的技术已经接近存储的物理极限。面对传统存储器的尺寸缩减已经面临极限的问题,因此发展高性能和高密度的新型非易失存储器成为了半导体存储器行业的研究焦点。电阻随机存储器展现出的小尺寸,高擦写速度、低能耗、高耐久性和与互补金属氧化物半导体工艺兼容等优异性能,被视为最有应用前景的下一代非易失性存储器,进而得到广泛的研究。本文主要围绕阻变随机存储器的发展进程、专利申请人、区域分布和技术趋势几个方面对电阻式随机存储器的专利申请情况进行研究。
简介:在研究静态随机存储器故障模型以及常用功能验证方法的基础上,提出采用MarchSOF算法结合故障注入的EDAC测试程序作为宇航用带EDAC功能SRAM存储器的验证方法。该方法将MarchSOF算法扩展为32位字定向算法,同时增加数据保持故障以及EDAC功能的测试,可以对宇航用SRAM进行全方位功能验证。采用实际电路,对该方法进行实现和验证,验证结果表明了方法的可行性和有效性。
简介:深圳易拓科技有限公司近期推出的Gstor安全存储器具备了基于硬件芯片级别的系统还原和数据加密功能。从外观上看,它和普通硬盘并没有太多区别.但它提供了四种安全存储方式.即普通存储方式、保密存储方式,保护存储方式和保护加保密存储方式。用户使用后三种方式,就可以轻松实现对系统内重要数据的备份、加密和还原。
简介:NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性(Non-Volatile)特点,被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质,但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令,以启动内置编程/擦除算法,从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度。因此,研究NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以AMD公司的AM29LV160DT为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法,从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。