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  • 简介:选取不同煤化程度五种煤样并制成600℃和800℃,应用同步辐射小角X射线散射研究了其亚微观孔隙结构,得到孔径分布,孔隙率,比表面,分形维数等许多结构参数,这些参数随煤化程度和所制半温度不同大都呈现一定变化趋势。

  • 标签: 半焦 孔隙结构 SAXS研究 测试
  • 简介:选取不同煤化程度五种煤样并制成600℃和800℃,应用同步辐射小角X射线散射研究了其亚微马孔隙结构,得到孔径分布、孔隙率、比表面、分形维数等许多结构参数,讨论了这些参数变化规律。

  • 标签: 孔径分布 孔隙率 比表面 分形维数 半焦
  • 简介:本刊讯按照"中国核工业集团公司企事业单位设计规范、试验规范、工艺规范编制项目管理办法"要求,中核集团"三规范"项目验收组于2008年7月30日对814厂"三规范"计划项目进行了现场验收。

  • 标签: 计划项目 现场验收 规范编制 中核 集团公司 通过
  • 简介:一回路冷却剂中同位素碘放射性活度大小是核电厂重要安全限值之一,是判断燃料元件安全性能提供最直接依据,因此对它准确监测尤为关键.通过质量管理(QC)小组活动程序对一回路同位素碘监测偏差几率原因进行了调查与分析,通过对策实施将偏差几率由15.44%降低到5.44%,更有效低为核电站安全稳定运行服务.

  • 标签: 质量管理 同位素碘 偏差几率
  • 简介:对磁控溅射法在YBa2Cu3O7-δ缓冲层及SrTiO3(001)衬底上生长Pb(Zr0.52Ti0.48)O3薄膜材料,应用X射线散射倒空间作图法研究了薄膜在垂直(a⊥)和平行(a||)于表面方向晶格常数与其厚度关系。研究结果表明,随着PZT厚度增加,a⊥增加,而a||减小。这种晶格常数变化,不能用一般薄膜弹性畸变来解释,我们归结为晶体尺寸效应起了很大作用。X射线衍射测量结果表明,随着PZT厚度增加,其晶粒尺寸也增加。

  • 标签: PZT薄膜 晶格常数 厚度 铁电薄膜 X射线衍射
  • 简介:应用同步辐照光源进行高温高压原位能量色散X射线衍射实验,入射X射线光束定位是关键,北京同步辐射实验室高压衍射站引入四刀光阑扫描系统,实现调光定位自动化,简化调光手续,提高实验效率,为高压衍射实验站用户进行实验提供了方便。

  • 标签: X射线衍射 同步辐照 光束定位
  • 简介:利用溶胶法制备出不同粒度聚乙烯醇(PVA)包覆下硫化亚铁(FeS)纳米颗粒,探讨反应物浓度对产物影响。对FeS进行了物性表征,同时进行了高压衍射相变研究。

  • 标签: FeS纳米颗粒 制备 表征 溶胶法 聚乙烯醇 包覆
  • 简介:利用同步辐射X光衍射技术,对(La1-xBix)0.5Ca0.5MnO3(x=0.2,0.3,0.4)中存在Jahn-Teller畸变,进行了原位高压研究。实验表明在外加压力作用下,能有效地影响到晶格中Mn-O键长和Mn-O-Mn键角变化,样品中晶格畸变有所减小。并且对在晶格中存在两种不同畸变模式Q2和Q3,在外加压力作用下变化规律进行了讨论。由于这两种不同畸变模式在受到外力作用时,表现形为不一样,导致了位于a-b基面上Q2畸变模式消失,并且导致Q2畸变模式消失压力点随掺杂浓度增加而增加。

  • 标签: 压力 掺Bi LaCaMnO 晶格畸变
  • 简介:根据《放射性同位素与射线装置安全和防护条例》[1]要求和核技术应用单位监管实际情况,对核技术应用单位向监管部门提交安全和防护状况年度评估报告内容和格式提出了具体要求,为核技术应用单位编写年度评估报告具有借鉴作用。

  • 标签: 辐射安全 评估报告 格式与内容
  • 简介:实验观测到X射线反向曲线具有双晶特征。研究表明缺陷聚集在孪晶晶界。应力在晶界边缘处得到释放。应力释放导致享晶和其它缺陷形成。由于缺陷形成在缺陷附近产生无位错无应力或低位错小应力区。因此我们提出一种孪晶模型来解释实验结果。应力(主要是热应力),化学配比偏离和杂质非均匀分布是液封直接(LEC)InP单晶生长过程中产生孪晶主要因素。研究了液封直拉(LEC)InP(111)面上孪晶。本文中讨论了上面提到孪晶模型实验证据和如何得到无孪晶液封直接(LEC)InP单晶。

  • 标签: INP 孪晶 晶界 同步辐射 磷化铟 面缺陷
  • 简介:在编写标准(或标准化文件)时,对无标题子条与列项可能出现不正确认识,对此,笔者依据其认识和经验,在本文中阐述了无标题子条与列项意义,并对它们进行了比较,归纳出一些不规范或不准确表述方式,与大家共勉.

  • 标签: 标准 无标题子条 列项
  • 简介:核电厂发生超过设计基准地震后,需要进行抗震裕度分析以便于识别核电厂薄弱环节。本文利用高置信度低概率失效来量化设备抗震裕度,采用保守的确定论失效裕度和易损性分析两种方法,计算了核电厂设备高置信度低概率失效,梳理了两种方法计算步骤,明确了计算过程中关键参数取值范围。利用两种方法计算基于抗震鉴定试验开关柜高置信度低概率失效。

  • 标签: 抗震裕度分析 高置信度低概率失效 抗震鉴定试验 开关柜