简介:频率复用度是移动集团的结构优化体系中评价频率使用状态的的关键指数,该指数现无法准确描述实际的频率复用状况,因此对频率复用系数的计算方式进行改良并进一步进行软件的具体实现,作为ASPS软件中结构化指数部分的功能。
简介:总结了基于COMSOL的侧向测井有限元计算方法,建立了基本的侧向测井数值计算模型,提出了侧向测井数值计算中求解域的确定方法。
简介:采用PECVD技术在1.55μnInGaAsP-InPMQW激光器结构的材料上沉积SiO2薄膜和含磷组分的SiO(P)电介质薄膜,经过快速热退火(RTA)后,样品的PL谱测试表明:覆盖有普通SiO2薄膜的样品蓝移量在5~74nm,而覆盖SiO(P)薄膜的样品呈现出341nm的大蓝移量.对SiO(P)薄膜的样品经红外光谱及XPS谱分析后证明,该膜的结构为SiOP,存在Si-O和P-O键,Si和P为正价键,其结合能分别为103.6eV和134.6eV.在退火过程中SiOP膜存在P原子的外扩散,它强烈地影响量子阱混合的效果,该SiOP膜明显区别于SiO2电介质薄膜.