简介:
简介:高剂量X射线粉末衍射测试说明升高温度有利于γ-Al2O3/Si外延生长,单晶衍射法证明应用低压CVD和高真空外延技术在我们的实验室生长出γ-Al2O3/Siuj单晶薄膜。它们的结晶关系是(100)γ-Al2O3//Si,[010]γ-Al2O3//[010]Si。
简介:软X射线监测系统的建立,结构特点和性能,有效地解决了气体的吸收和窗膜的透过率等因素的影响。申请获得了美国布鲁克海文国家实验室(BNL)的用光时间,对监测系统的性能进行研究,并给出了该系统的精度及与国际标准的比对结果。
2001年国际合作和国际学术交流
硅上异质外延氧化铝的X射线测试分析
2002年国际合作及学术交流
软X射线监测系统的建立与国际标准的比对