简介:
简介:北京同步辐射装置(Beijingsynchrotronradiationfacility,BSRF)3B1B生物光谱实验站已经投入运行,该站的主要工作是测量样品的圆二色性。本文介绍该站为获取稳定的圆二色信号所做的工作。
简介:应用扩展X射线精细结构(EXAFS)技术研究了化学改性MnO2中锰及铋的结构形态。结果表明:掺杂元素铋进入MnO2的晶格,增大MnO2的不同壳层配位无定形。在MnO2-电子放电还原过程中,铋的氧化态保持稳定,MnO2没有发生结构重排。
简介:本文考察了正硅酸乙酯(TEOS)在碱性催化条件下通过水解和缩聚而制得的二氧化硅胶体的小角X射线散射(SAXS)特征,通过散射数据对Porod负偏离的分析和校正,测定了胶体粒子的几何结构,包括胶团尺度分布、胶核尺度分布及平均界面层厚度,这有助于认识胶体的物理化学特征。
简介:本文利用沉淀法制备了粒度分窄,无明显团聚的ZrO2纳米微粒。考察了ZrO2纳米微粒修饰丝光沸石对二甲苯异构化的影响。实验结果表明,经修饰后的丝光沸石催化剂能有效地抑制副反应的发生,提高二甲苯异构化的选择性,超微粒子修饰的丝光沸石的催化活性和选择性明显优地体相材料修饰的样品。
简介:应用同步辐射小角X射线散射方法测试了不同制备条件下SiO2干凝胶的孔隙结构,发现了散射曲线对Debye散射理论的遵守与正、负偏离的三种情况。分别应用Debye法和Guinier法(逐级切线法和多级斜线法)计算了SiO2干凝胶中微孔的平均孔径,结果表明这几种方法的计算值不仅在遵守Debye散射理论的情况下比较接近,而且在偏离(正和负)Debye散射理论的情况下也取得了较好的一致性。
简介:提出了当多孔体系的小角X射线散射不遵守Porod定理的情况下,应用Debye法(相关函数法)和Guinier法(逐级切线法和多级斜线法)计算它们的平均孔径的方法。对不同制备条件下部分二氧化硅干胶凝的测试,取得了比较一致的结果,并与氮气吸附法测定结果进行了对比。
简介:在同步辐射软X光能区(50-2000eV)进行了硅光电二极管的自标定实验,因为消除了二极管的“死区”并采用很薄层的SiO2作窗,使得可以用简单的模型来分析实验结果,由实验测得的光电流,计算出硅光电二极管的量子效率,并求得入射同步辐射的光通量。
简介:对磁控溅射法在YBa2Cu3O7-δ缓冲层及SrTiO3(001)衬底上生长的Pb(Zr0.52Ti0.48)O3薄膜材料,应用X射线散射倒空间作图法研究了薄膜在垂直(a⊥)和平行(a||)于表面方向的晶格常数与其厚度的关系。研究结果表明,随着PZT厚度的增加,a⊥增加,而a||减小。这种晶格常数的变化,不能用一般的薄膜弹性畸变来解释,我们归结为晶体的尺寸效应起了很大的作用。X射线衍射的测量结果表明,随着PZT厚度的增加,其晶粒尺寸也增加。
简介:应用同步辐照光源进行高温高压原位能量色散X射线衍射实验,入射X射线光束定位是关键,北京同步辐射实验室高压衍射站引入四刀光阑扫描系统,实现调光定位自动化,简化调光手续,提高实验效率,为高压衍射实验站的用户进行实验提供了方便。
简介:利用溶胶法制备出不同粒度的聚乙烯醇(PVA)包覆下的硫化亚铁(FeS)纳米颗粒,探讨反应物浓度对产物的影响。对FeS进行了物性表征,同时进行了高压衍射相变的研究。
简介:利用同步辐射X光衍射技术,对(La1-xBix)0.5Ca0.5MnO3(x=0.2,0.3,0.4)中存在的Jahn-Teller畸变,进行了原位的高压研究。实验表明在外加压力的作用下,能有效地影响到晶格中Mn-O键长和Mn-O-Mn键角的变化,样品中的晶格畸变有所减小。并且对在晶格中存在的两种不同的畸变模式Q2和Q3,在外加压力的作用下的变化规律进行了讨论。由于这两种不同的畸变模式在受到外力作用时,表现形为不一样,导致了位于a-b基面上的Q2畸变模式的消失,并且导致Q2畸变模式消失的压力点随掺杂浓度的增加而增加。
简介:实验观测到X射线反向曲线具有双晶特征。研究表明缺陷聚集在孪晶晶界。应力在晶界边缘处得到释放。应力的释放导致享晶和其它缺陷的形成。由于缺陷的形成在缺陷的附近产生无位错无应力或低位错小应力区。因此我们提出一种孪晶模型来解释实验结果。应力(主要是热应力),化学配比的偏离和杂质的非均匀分布是液封直接(LEC)InP单晶生长过程中产生孪晶的主要因素。研究了液封直拉(LEC)InP(111)面上的孪晶。本文中讨论了上面提到的孪晶模型的实验证据和如何得到无孪晶液封直接(LEC)InP单晶。
简介:软X射线监测系统的建立,结构特点和性能,有效地解决了气体的吸收和窗膜的透过率等因素的影响。申请获得了美国布鲁克海文国家实验室(BNL)的用光时间,对监测系统的性能进行研究,并给出了该系统的精度及与国际标准的比对结果。
简介:采用微乳液法制备了表面包覆表面活性剂AOT的氢氧化镍纳米微粒,退火后得到纳米尺寸的氧化镍颗粒。用EXAFS方法对获得的氢氧化镍和氧化镍纳米颗粒进行了研究,得到了EXAFS结构参数,并分别与体相材料进行了比较。结果表明与体相材料相比,纳米材料配位结构表现出不同的特性。
简介:低温下用MBE方法生长了Ge/Si超晶格。X射线近边吸收限精细结构研究表明,Ge与Si再Ge/Si界面处存在化学混合。X射线反射及横向散射研究表明,Ge亚层上下表面的粗糙度呈反对称,下表面大的粗糙度来源于Ge向Si亚层中扩散形成SiGe混合组分结构:这种组分结构可以用一平均成份的SiGe合金层加以拟合,从而使得各亚层均有一个合理的粗糙度。旋转样品进行的X射线散射研究表明,这种SiGe的混合是各向同性的,这与透射电子显微镜的研究结构相一致。
无标样X射线荧光(XRF)定量分析
BSRF圆二色信号采集系统
二氧化锰掺杂改性的EXAFS研究
SAXS测定二氧化硅胶体粒子结构
ZrO2纳米微粒修饰丝光沸石对二甲苯异构化的影响
小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的平均孔径
小角X射线散射方法测定二氧化硅干胶凝的平均孔径
在同步辐射软X射线能区硅光电二极管的自标定
2002年度北京同步辐射装置结束的用户课题一览表
新一代超薄金刚石X光窗口及器件研制
PZT薄膜的晶格常数与其厚度的关系
高压衍射实验中的同步辐射光束的定位
纳米材料的制备及微结构的EXAFS研究
FeS纳米颗粒的制备、表征及相关物性的研究
压力对掺Bi的LaCaMnO中晶格畸变的影响
InP中的孪晶和晶界的同步辐射研究
软X射线监测系统的建立与国际标准的比对
表面活性剂修饰的纳米氧化镍的EXAFS研究
低温生长的Ge/Si超晶格界面结构的X射线散射研究
LiGaO2晶体的压电特性和缺陷的X射线貌相研究