简介:
简介:本文用EXAFS方法研究了Fe85Zr9B6和Fe84Zr9B6Cul合金退火过程中Fe和Zr原子近邻配位结构的变化。表明在823K以下整个退火过程中Zr原子始终存在于非晶相中,没有进入晶化相。晶化相为bccα-Fe。Cu的加入降低了晶化温度。
简介:X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法,研究了不同温度下分子束外延生长的δ掺杂(Sb)Si晶体样品,成功地测量了样品中几个纳米范围内的Sb原子深度分布,所得结果表明,300℃以下是用分子束外延方法在Si晶体中生长Sb原子δ掺杂结构的合适温度。
简介:本文报道了纳米Gd2O3:(Ce^3+,Eu^3+)在紫外以及真空紫外(UV-VUV)选择激发下的荧光光谱。这些光谱实验表明,Gd2O3:(Ce^3+,Eu^3+)中Ce^3-占据两种不同格位。除了Gd2O3基质与Ce^3+,Eu^3+离子之间的能量传递外,还存在着较弱的Ce^3+与Eu^3+间的能量传递。
简介:本文介绍了同步辐射及其特点,同步辐射微探针荧光分析的实验装置及北京同步辐射装置上开展的研究工作。
简介:论文介绍了北京同步辐射X-射线荧光微束分析装置的最新进展,以及近年来在生物医学和石油地质领域的应用研究工作,重点报导了前不久在国内首次使用该方法,对单个流体包裹体探测的实验结果。
简介:用微米束同步辐射X射线荧光法(μ-SRXRF)对国际原子能机构(IAEA)研制的可用于核技术微量分析的两种固体微量生物标准参考物地衣IAEA-338和海藻IAEA-413样品中的各种微量元素进行了检测,并对这种标准参考物的均匀性进行了检验。结果表明:这两种微量固体生物标准参考物的均匀度达到了预定指标。
简介:高剂量X射线粉末衍射测试说明升高温度有利于γ-Al2O3/Si外延生长,单晶衍射法证明应用低压CVD和高真空外延技术在我们的实验室生长出γ-Al2O3/Siuj单晶薄膜。它们的结晶关系是(100)γ-Al2O3//Si,[010]γ-Al2O3//[010]Si。
简介:从量子力学的不确定原理出发,推导出光源相干性和光束相干性的关系,并应用所得的结论对同步辐射X光束的空间相干性进行了物理分析,讨论了X光相干光学实验对X光束的一些要求。
简介:研究了FeMn/Co多层膜界面插入Bi前后微结构的变化。利用磁控溅射法制备了FeMn/Co多层膜,利用X射线小角反射和漫散射技术进行了表征,得到结果如下:插入Bi之前,在FeMn/Co界面处确实存在FeMnCo的成分混合存在,插入Bi之后,FeMnCo的成分中掺入了Bi。而且,在FeMn/Co界面处Fe,Mn,和Co的元素分布不相同。
简介:本文介绍我们近一年来开展单个流体包裹体同步辐射无损分析研究所取得的进展,建立适合分析包裹体的微区光斑观测和地准系统,解决样品的制备问题,对一批典型的流体包裹体的微量元素分布作了探测,并由较大包裹体发展到较小包裹体,由定性分析逐步发展到定量分析研究。
Si晶体中δ掺杂Sb原子的分布研究
超薄层、亚单原子层固体薄膜的X射线测量结构表征
FeZrB(Cu)系纳米晶软磁合金原子近邻结构的EXAFS研究
Sm,Eu掺杂的碱土硼磷酸盐发光材料的VUV激发光谱
北京同步辐射装置—3B1B光束线和VUV光谱实验站
同步辐射X射线反射技术及其在测量δ掺杂晶体中原子表层深度分布的应用
纳米Gd2O3:(Ce^3+,Eu^3+)在UV和VUV选择激发下的荧光光谱
同步辐射微探针荧光分析
BSRF SXRF分析装置对地质样品的检测能力—兼述矿物流体包裹体SXRF分析的几个问题
聚乙烯乙烯合金的X光小角散射分析
北京同步辐射X—射线荧光微束分析进展
元大都出土青花瓷器的无损分析
古陶瓷的同步辐射X射线荧光分析研究
IAEA微量生物标准参考物均匀性的SRXRF分析
无标样X射线荧光(XRF)定量分析
硅上异质外延氧化铝的X射线测试分析
同步辐射X光束空间相干性的物理分析
FeMn/Co多层膜界面插入Bi前后的微结构分析
单个流体包裹体同步辐射无损分析研究的进展
同步辐射X射线荧光分析的晶态物质衍射影响