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8 个结果
  • 简介:信号的载频估计在无线电频谱资源的使用和管理中起到了至关重要的作用。现有的载频估计算法载估计精度,计算复杂度等方面存在严重不足,不利于仪表应用。结合典型的谱重心法和最小方误差算法的特点,提出了一种新的载频盲估计算法。该算法无须知道信号的体制类型,即可对信号直接进行载频估计。该算法以谱重心法得到的载频估计值为粗估计,并利用平滑后的功率谱中间段对称性更好的特性,根据最小方误差算法计算粗估计误差范围内的局部对称性大小,求取对称性最好的位置作为载频精估计值。在高斯信道下的仿真实验结果表明:相比谱重心法,新算法的估计精度在不同信噪比下均有较大的提高。特别是在低信噪比的情况下,载频估计的精度提升更明显。因此,新算法在无线频谱监测中有着很好的应用前景。

  • 标签: 载波频率 盲估计 谱重心法 最小均方误差算法 频谱资源监测
  • 简介:<正>在全球半导体市场持续繁荣和国内宏观经济高速增长的带动下,中国集成电路市场及产业呈现了高速发展的态势。据赛迪顾问的研究报告显示,2004年上半年我国集成电路市场保持了较高的增长速度,实现市场销售额达1370亿元,与2003年上半年的1004.5亿增长了36.4%。研究报告指出,2004年上半年我国集成电路产业产量规模继续快速扩大,1~6月份国内集成电路总产量累计达到94.19亿块,比2003年上半年增长了54.7%;而集成电路

  • 标签: 赛迪顾问 产量规模 芯片制造业 国内宏观经济 封装测试业 研究报告
  • 简介:摘要当前我国小学数学课堂教学评价依旧延续旧式评价标准,本文对小学数学的课堂教学进行性研究,通过数据分析、案例追查来研究当前教学评价。从中找出不足与缺漏,并针对性的提出相应改进措施。由此来提高小学数学教学质量,促进学生逻辑思维能力的发展。

  • 标签: 小学数学 教学评价 改进方法
  • 简介:作者在积累氦谱组合检测中发现存在粗漏漏检现象,美国宇航局2013年2014年的研究报告揭示,各种组合检测复测中存在粗漏细漏漏检现象。文章对积累氦谱组合检测和氩粗漏氦细漏组合检测的粗漏检测,提出了确定最长粗漏检测时间的方法;对这两种组合检测和氦谱检测的细漏检测,综合给出了定量确定和拓展细漏检测最长候检时间的方法,论证了压氦压力不应小于2倍的大气压力,提出了确定预充氦法和预充氦氩法最小候检时间的方法,提出了确定最长细漏检测时间的方法,从而可减少和防止粗漏和细漏漏检;并通过对美国宇航局报告中实例的分析,验证了以上方法的有效性。同时指出漏孔堵塞是造成漏检的原因之一,但不是形成微型元器件高比率漏检的主要原因。

  • 标签: 密封性检测 积累氦质谱 粗漏检测 细漏检测 漏检 漏孔堵塞
  • 简介:来自世界各地的电子生产商们于2009年11月10-13日在德国慕尼黑聚首,共享productronica带来的良好机遇。尽管经济低迷,productroniea仍吸引了1150家展商和公司代表参展(2007年:1,477家)。相比行业其他公司,productronica所受损失要小得多。本届productronica总展览面积达75,000平方米,

  • 标签: 电子 生产制造 世界 产业 展会 慕尼黑
  • 简介:通过论证和推演,对各种氦谱细漏检测方法给出了当细漏氦气测量漏率判据R_(max)小于粗漏判据相应的氦气测量漏率判据R_(0max)时,定量拓展细漏检测最长候检时间的公式,并给出了保持被检件内部氦气分气压不低于0.9倍的正常空气中氦气分气压P_(HeO)的方法。

  • 标签: 氦质谱 细漏检测 最长候检时间 定量拓展
  • 简介:密封电子元器件在长时间存放后,会存在无法检测的现象.当超过密封件细漏检测的最长候检时间时,应再次压氦,然后进行细检漏.按现行的各种规范的规定,压氦法和预充氦法再压氦的条件、程序和判据一般均与首次压氦相同,但分析表明,这样可能会使测量漏率判据出现成倍或更大的偏差,有时会出现大漏的漏检和细漏的错判.推演出多次压氦法和预充氦压氦法的测量漏率判据公式,给出了相应的压氦条件和细检漏的最长候检时间,从而更为便捷准确地解决了长候检时间下的密封性检测问题.

  • 标签: 氦质谱细检漏 多次压氦法 预充氦压氦法 测量漏率判据 压氦时长 最长候检时间