简介:本文讨论了叶蜡石密封边的结构的变化。
简介:用XPS技术和X射线衍射方法检测了复合片中各个元素的结合能与晶体结构的变化,讨论了复合片与质量有关的问题。
简介:用X衍射实验测量了灰色叶蜡石、灰白色叶蜡石、黄色叶蜡石、深红色叶蜡石的结构和杂质。
简介:
密封边的X射线衍射讨论
复合片的XPS和X射线衍射分析
四种叶蜡石的X射线研究
在相当于17万个大气压的高强度X射线照射下软石墨竟可硬如金刚石美科学家获得材料学新突破