简介：摘要： 由于激光在半导体器件中会产生与某些辐射效应相似的电特性，因此用激光模拟辐射电离效应的方法应运而生。在过去的二十年里，它得到了国外科学界的推广和认可。该方法在半导体器件辐射效应的灵敏度测试、辐照硬化器件的批量筛选、防护措施的验证等方面具有独特的能力。它在很大程度上弥补了地面设备仿真方法的不足，具有非常广阔的应用前景。
半导体器件辐射电离效应的激光模拟方法
