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  • 简介:摘要本文主要概述X射线荧光光谱的基本特点及原理。主要由三个方面来说明如何充分利用ED-XRF来进行有害的过程监控,这三个方面分别是资料的监控、评估及生产过程评估和成品评估。利用样品对X射线的吸收随样品中的成分及其多少而变化来定性或定量测定样品中成分的这种方法被称为X射线荧光光谱技术。

  • 标签: ED-XRF 过程监控 有害物质