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  • 简介:针对目前我国急需开展质子单粒子效应辐照实验的需求,研制了适用于质子束流注量率监测的次级电子发射监督器(secondary—electronemissionmonitor,SEEM)。测试结果表明,SEEM在监测注量率为109~1010cm-2·s-1的质子束流时,其电流与注量率间的线性相关性很好,可应用于质子单粒子效应实验束流诊断。同时,测量了不同质子能量下铝的次级电子发射系数,测量值与理论计算结果吻合较好。

  • 标签: SEEM 质子单粒子效应 束流诊断