简介：本文作者用表面分析技术(例如XPS，XAES技术)研究了在Ca^-阴离子存在下低碳钢氧化物表层对羟基乙叉二膦酸(HEDP)吸附性。Ca^2+阳离子的存在增加了HEDP，吸附量与Ca^2+离子的浓度呈函数关系，也与表面层上氧化物层的化学状态有关。研究发现，Ca/HEDP络合物的吸附量随不同价态氧化物／金属态的比值增加而增加。

简介：从水成岩(即沉积型磷矿岩——译者注)中提取生物可利用和运送的磷酸盐及以下已被广泛运用的酸萃取过程。在提出的几种方法中，约有两种不同方法：一是基于用强酸作为萃取剂；二是基于用络合剂(如氨三乙酸NTA和乙二胺四乙酸EDTA)。由于萃取剂缺乏选择性就意味着难以做到只选取想要的部分，并且操作对实验条件有很强依赖性。因而，其结果不能比较并且也难以被确认。

简介：本专利所述的CaP型半导体基板用于红光发射的元器件，其制造方法是先生长n型单晶，此单晶含有1．0×10^16个原子／c．c，用B203并含有≥200ppm的H20作为封装液体来用查理斯基封装法(Czochraskimethod)封装，生成一种CaP和P型CaP层在半导体的表面上。N型CaPn型层可掺杂入S，P型CaP可掺杂O或Zn。

简介：将某些热分析数据资料同化合物的X射线衍射数据资料进行部分比较或与其分析结果进比较可以严格地确定含二氧化硅磷酸锆盐所带结晶水的数量，也可以用此方法研究其他磷酸锆盐Zr(H2PO4)(PO4)．2H2O(简写为r--ZrP)。α．β锆盐与乙醇类，胺类生成的中间插入式层间化合物ZrxTi1-x(HPO4)mH2O与乙醇，丙胺，丁胺和二乙胺与上述物生成的中间插入化合物与锆类化合物(ZrP)性质则全然不同。

简介：在本专利所述的方法中，包括了从预制料拉成光学纤维和将拉成的光学纤维进行包覆。预制料的预制是用一种转变温度小于200℃的磷酸盐玻璃，在大于等于其转变温度下30℃条件下Overclad成的。通过将预制型的料插进熔融的磷酸盐玻璃中。最希望的是，该方法包括制备一种氟化物的预制料，所含的氟化物选自ZrF4和／或HfF450-60％(摩尔54百分数以下同)，

简介：许多种层状的钛-氢磷酸盐结晶水合物的生成区域曾被研冗过。样品的制备万法是用水热方法将无定型的磷酸钛以磷酸H3PO4(8至16摩尔浓度)在175-250℃下进行水热处理而得。于是得到了α型Ti(HPO4)2．H2O，Y型Ti(PO4)(H2PO4)．2H2O和其无水物形态的β型Ti(PO4)(H2PO4)。其中β型的Ti(PO4)(H2PO4)是用中子衍射测试数据，用Rietveld粉末解析法确定的。

简介：本专利中所说的磁记录介质其非磁性部分即磁介质的支持物基板，它是一个能速旋转的盘子，它含有铁磁性粉末，此粉末分散在一种粘合剂和R^1CO2CH2CMe2CH2-OCOR^2中，(式中R^1，R^2=C5-21的饱和烃基)。另外，还含有一种或一种以上磷化合物，它选自于以下三类磷化合物：(RO)nP(O)(OM)3-n，(RO)nP(OM)3-n和RnP(O)(OM)3-n，此处(R=取代的烷基，亚烷基，芳基，n=1，2M=碱金属，碱土金属)。

简介：铜金属的无电电镀制成的阻挡层沉积能给人们带来很多好处。在其中，有对双向导电的选择性，有再沉积一种无定形合金的可能性，有通过加入一种第三组份而使二元合金的性质增强化的好处，有高可靠性和低成本费用。在集成电路的结构中在铜和钴的面上，在碱性溶液中常沉积一层富钴的钴——钨——磷三元合金。合金中磷的成分较高(以重量计约11％)，低的第三组份钨(约以重量计占2％)。

简介：题录的润滑油制剂含有(a)羧酸和／或羧酸酯及(b)磷酸酯OP(OR^1)3．(这里R^1=C1-24的烃基)。本专利在上述专利配方中也含有碱金属、碱土金属锌和／或铅的有机酸盐。本制剂对于水乳性切削液在精密切削方面提供良好的润滑性质。

简介：题录的配合物在组成中含有(a)热塑性聚苯乙烯高分子100份，(b)双环型磷酸酯Ⅰ。

简介：以X射线衍射分析和红外分光光谱技术为主要支撑的分子模拟技术通常用于对插入了乙醇的α磷酸锆盐Zr(HPO4)．2EtOH进行结构分析。在作者Cerius的论文中，他用结晶包装模数(CrystalPackermodule)这一概念揭示了层间化合物的结构，即对于Zr(HPO4)2来说，分子中乙醇的位置是在Zr(HPO4)2的层间，并且此层状结构是多层的。

简介：本文作者用保温设备研究了由羟基磷灰石(HA)和β-磷酸三钙(β-TCP)在不同溶液中，当与生物材料相接触时磷酸钙盐的溶解——沉淀过程。这不同的溶解有离子与体液(SBF)而不含垩白，或者离子与体液兼含多种垩白，和大部分个体(例如纤维垩白，Vifronecfin，白垩白和聚L-谷氨酸)。透射电子显微镜分析技术揭示，磷灰石沉淀的微晶在陶瓷晶体周围出现是次级核生成的结果，

简介：在本文所述的仪器的反应炉表面的一部分或整个装置反应炉表面上，形成了一个窗口，X射线即喷射到反应炉面上的一层薄膜上(例如是磷化镓或磷化镓砷)，这样X射线发生的散射线被检测出来。X射线发生器和检测器围绕着反应炉转动，这样使得薄膜与X射线间的夹角与薄膜与衍射线之间的夹角之比值保持2：1，使得研究者可以现场进行观测。(指对摆动曲线或者薄膜的晶格配置的观测)。