简介：基于条形波导传统数学模型和等效折射率方法,建立了SOI（silicon-on-insulator）脊形波导散射损耗的数学模型,重点讨论了侧壁粗糙度与几何结构对波导散射损耗系数的影响。研究表明：侧壁粗糙度是引起散射损耗的主要因素;波导几何结构对散射损耗的影响主要由波导宽度决定;对于给定刻蚀深度,损耗随波导宽度增大而减小;对于给定波导宽度,损耗随刻蚀深度增大而增大。
侧壁粗糙度与几何结构对SOI脊形波导损耗的影响
