简介：摘要：电子元器件失效分析是通过对失效件的解剖、观察、分析研究，找出失效机理，查明造成失效件故障的根本原因，进而提出电子元器件改进措施，提高产品的良品率及可靠性。在电子元器件的设计、生产、测试以及应用等环节中，都离不开失效分析。随着电子元器件功能的多样化，外观的微型化，对于电子元器件失效分析能力的要求越来越高，如何对失效位置进行准确的定位成为失效分析的关键所在[1]。
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