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基于CTA8280F系统的SA2576、SA2576HV、SA2596、SA2596HV芯片测试方案的设计

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摘要介绍CTA8280F测试系统的概况，SA2576、SA2576HV、SA2596、SA2596HV工作原理及其芯片测试方案设计。

DOI 7dm9g2kyjn/7918554

作者沈溢锋

机构地区杭州士兰微电子股份有限公司 310052

出处《科技新时代》 2023年20期

关键词集成电路测试系统电源控制

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2023年12月27日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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集成电路测试系统电源控制

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