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《中国自动识别技术》
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中国射频识别基准测试论坛将举行
中国射频识别基准测试论坛将举行
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摘要
2008年12月15—16日,中国射频识别基准测试发展论坛暨中国射频识别基准测试联盟成立仪式在北京举行。此次论坛以“协同发展、资源共享、展望未来”为主题.邀请了国际知名仪器厂商Agilent、Tektronix、NI进行FIFID协议一致性测试解决方案的现场演示。中国射频识别基准测试联盟的成立以推进射频识别技术在中国的应用和发展为目的.
DOI
6jrvg3mxd5/645415
作者
机构地区
不详
出处
《中国自动识别技术》
2008年6期
关键词
射频识别技术
基准测试
中国
论坛
TEKTRONIX
测试解决方案
分类
[自动化与计算机技术][计算机应用技术]
出版日期
2008年06月16日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国自动识别技术
2008年6期
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